产品介绍
系统适用于单一器件和多于一个器件串联而成的组件在直流电压、交流50Hz电压作用下的局部放电水平的。单一器件类型包括压接型IGBT器件、焊接型IGBT器件和碳化硅器件。组件由单一类型的器件串联,类型主要为压接型IGBT器件(包括硬压接和软压接两种形式)和焊接型IGBT器件。
产品功能
具备测试压接型IGBT器件、焊接型IGBT器件和碳化硅器件在直流电压作用下的局部放电水平的功能。
具备测试压接型IGBT器件、焊接型IGBT器件和碳化硅器件在交流50Hz电压作用下的局部放电水平的功能。
能测量局部放电表征量,包括:视在电荷,平均放电电流,放电功率,脉冲重复率,局放脉冲的相角,局放脉冲的发生瞬时,重复出现的最大局放值,局部放电起始电压,局部放电熄灭电压等。
全过程自动化测试,包括:参数设定、监控、测试和测试报告生成。
具备专门的配套软件,具备直流局放测量、数据分析、数据绘图显示、数据导出功能、显示及控制功能。
产品特点
系统功能涵盖范围广,具备测试压接型IGBT器件、焊接型IGBT器件和碳化硅器件在直流电压、交流50Hz电压作用下的局部放电水平的功能;
自动化测试,系统自动完成测试项目,根据指定模板自动生成相关测试报告;
测试系统自身具有屏蔽外部干扰的作用;
具有扩展接口,可外接示波器分析设备
具备完善的保护功能,可有效保护操作人员和设备安全。
技术参数
局放测试单元 | 局放检测 | 输入阻抗 | 50Ω |
系统带宽 | 30kHz-1.5MHz(-6dB) | ||
滤波中心频率 | 30kHz-1.5MHz(自由可选) | ||
滤波带宽 | 支持高通和低通滤波 | ||
灵敏度 | <0.1pC | ||
输入衰减范围 | 0dB/20dB/40dB可选 | ||
存储深度 | 数据直接存储在PC上,支持海量存储 | ||
电压测量 | 频率范围 | 20-400Hz | |
线性误差 | 41%(0.1-100%FSR) | ||
同少 | 电压或电源输入 | ||
同步精度 | <5° | ||
适用的标准 | IEC-60060 Parts 1&2、IEC-60270 | ||
电源 | 90-264VAC,50Hz | ||
耐压测试单元 | 电压范围 | AC:0-5kV;DC:0-6kV | |
电压分辨率 | AC:<0.01kV;DC:<0.01kV | ||
电压精度 | 2% | ||
漏电流范围 | AC:0.01mA to 100mA ;DC:0.01mA to 10mA | ||
电流分辨率 | 0.1mA | ||
电流精度 | ±1.5% | ||
测试时间 | 0.1s to 999s | ||
供电电源 | 电:100VAC~240VAC;频率:50~60Hz | ||
软件/接口 | USB,RS232等通讯接口,标配软件 | ||
交直流高压电源 | 电压有效值可调范围 | 0-30kV | |
电压调节精度 | 0.1kV | ||
局部放电耦合电容 | 电容量 | 1nF | |
额定电压下的局放水平 | <1pC | ||
额定电压 | 50kv | ||
接口类型 | BNC | ||
局部放电测量阻抗 | 最低频率 | <20kHz | |
最高频率 | ≥8MHz | ||
低压臂电容值 | ≥20uF | ||
输入上限 | 500V | ||
最大输出电压 | 140 VRMS | ||
接口类型 | BNC | ||
局部放电校准仪 | 衰减精度 | 1% | |
放电量范围 | 1pC-50nC | ||
极性 | 正极,负极 | ||
接口类型 | BNC |