武汉精测多点位老化测试点灯机-宜器服务网

产品详情

多点位老化测试点灯机

提供OLED/Mirco OLED模组点屏时所需电源/图形视频信号/GPIO等激励

满足多种老化点屏测试应用场景

产品特点

超强性能
分体式架构
高速FPGA方案
多通道点屏

主要用途及应用场景

0.1寸~12寸 OLED/Mirco OLED模组点屏

适用于中小尺寸OLED、Micro OLED模组的老化点屏测试，适用于RTO/LTO/HTO等多种老化点屏应用场景

功能及应用展示

单点位老化测试点灯机-1.png

配套软件

UIS测试设备管理系统

应用终端

多点位老化测试点灯机-1.png

产品优点

1. 超强性能

支持MIPI（D-PHY、C-PHY）、eDP、LVDS、TTL/MCU、SPI，最高支持分辨率8K@30Hz，同时提供高精度、大功率电源，可以满足0.1~20寸OLED、Micro OLED模组信号检测需求

2. 高速FPGA方案

自研基于高速FPGA的信号源（MIPI、eDP）可定制支持非标协议，支持非标分辨率模组的点屏

3. 分体式架构

采用主PG加扩展盒的产品架构，实现高温/高湿环境下的点屏应用时的稳定性/可靠性

4. 多通道点屏

支持1：5点屏

关键技术点

1. 支持C-PHY 4K@60Hz非压缩点灯

2. 支持8lane MIPI D-PHY和6lane MIPI C-PHY

3. 支持eDP1.4a协议，8.1Gbps/lane

4. 支持MIPI DSC压缩和DP DSC压缩

5. 支持支持ALPDP协议

6. 高达9路高精度（±1uA Max）可调电源，最大12A电流输出

7. 全脚本化支持，简单易学

8. 支持脱机使用，可离线操作

技术参数

信号规格
信号	规格	备注
MIPID-PHY	DSI v2.0，D-PHYv1.1，DCS v2.0 Video/Command Mode 6、8、10 bit支持 1/2/3/4/8 Lane，1.5Gbps/Lane 3840+2160@60Hz Max(压缩模式)	支持DSCV1.2压缩
MIPIC-PHY	DSI v2.0，C.PHYv1.1，DCS v2.0 Video/Command Mode 6、8、10 bit支持 1/2/3/6 Lane,17.1Gbps/6Lane 3840+2160@60Hz Max	扩展
eDP	eDPv1.2a(可扩展eDPv1.4) 6、8、10 bit支持 1/2/4/8 Lane,5.4Gbps/Lane Max 3840+2160@120Hz Max
LVDS	VESA/JEIDA 6、8、10bit支持 1、2、4Link,时钟频率160MHz/Link Max 3840*2160@60 Hz Max	扩展
TTL	6、8、10bit 时钟频率160MHz Max 1.6V~3.6V幅值可调 1920+1080@60Hz Max	扩展

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