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武汉精测
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分光色度计

武汉精测 分光色度计

品牌名称:武汉精测

产品型号:分光色度计

产品规格
产品介绍
支持光谱分析和色度测量
采用高效光栅和特殊镜头,实现光谱实时测量
支持显示器超高动态比测量
实现0.005nit~15,000nit范围内保证精度的连续测量,为显示器提供更大范围的动态对比度保证
支持显示设备的极低亮测量
采用暗电流补偿设计,实现0.005nit的极低亮测量。
支持偏光设备稳定测量
采用特殊光栅和去偏器件,保障了那些使用偏振片的显示设备的测量数据的稳定性。
适用范围广,测量功能全
适用市场上绝大多数显示产品的测量,通用性强;可以测量光谱、xyLv、XYZ、TcpΔuv、λdPe等参数。
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产品详情

分光色度计

分光色度计为显示领域产品光谱测量提供了一种快速、精准、便捷、可靠技术方案,实现了对显示产品的亮度和色彩以及光谱的快速测量,可用于FPD模组的光谱、绝对亮度和色度测量,发光光谱和短时变化光谱的时序评估。

 

应用终端

消费电子、模组面板、汽车电子、智能终端等显示产品色彩与光谱测量。

技术优点

  • 支持光谱分析和色度测量

    采用高效光栅和特殊镜头,实现光谱实时测量

  • 支持显示器超高动态比测量

    实现0.005nit~15,000nit范围内保证精度的连续测量,为显示器提供更大范围的动态对比度保证

  • 支持显示设备的极低亮测量
    采用暗电流补偿设计,实现0.005nit的极低亮测量。

  • 支持偏光设备稳定测量
    采用特殊光栅和去偏器件,保障了那些使用偏振片的显示设备的测量数据的稳定性。

  • 适用范围广,测量功能全

    适用市场上绝大多数显示产品的测量,通用性强;可以测量光谱、xyLv、XYZ、TcpΔuv、λdPe等参数。


关键技术点

  • 高精度

    采用高性能光栅、暗电流补偿及高精密光源校正,保证了光谱及色度的精确测量和极低的偏振误差。

  • 高灵敏度

    采用特殊镜头设计,能够获取比通常镜头多一倍的光线,配合高性能电路和数字信号增强处理。实现更广应用、更高精度、更快速度的测量。

  • 高稳定性

    采用专业的数字信号增强系统,以及高灵敏度芯片,确保低亮下的亮度和色度的稳定测量。


技术参数

型号

分光色度计

波长分辨率

2.8nm

波长范围

380-780nm

显示波长宽度

1nm

波长精度

±0.5nm

测量角度

0.9°

亮度(标准屏幕*1)

0.005cd/m2~15000cd/m2

最小测量区域

Φ10

测量距离

1mm(Φ10口径)~100mm(Φ13口径)

精度(标准屏幕*1)

±3%(亮度)

精度:色度(标准屏幕*1)

×:±0.0035(0.1cd/m2以上)    y:±0.0035(0.1cd/m2以上)

重复性:亮度(2o)
  (标准屏幕*1)

0.2%(500cd/m2110ms/times)
  0.2%(9cd/m2450ms/times)
  2%(o.06cd/m22.3s/times)
  3%(o.02cd/m27s/times)
  3%(0.005cd/m221 s/times)

重复性:色度(2o)
  (标准屏幕*1)

x:±0.0002    y:±0.0002(500cd/m2   110ms/times)
 x:±0.0002    y:±0.0002(9cd/m3   450ms/times)
  x:±0.005    y:±0.005(0.06cd/m2     2.3s/times)
  x:±0.006   y:±0.006(0.02cd/m2     7s/times)
  x:±0.009    y:±0.009(0.005cd/m2     21s/times)

偏振误差(标准屏幕*1)

0.5%以下(400~780 nm)

测量时间

110ms/times   (>10nit)
  450ms/times (1-10nit)
  2.3s/times (0.05-1nit)
  7s/times (0.01-0.05nit)
  21s/times (<0.01nit)

接口

USB2.0

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