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武汉精测
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成像式频率测量

武汉精测 高速率数据传输 成像式频率测量

品牌名称:武汉精测

产品型号:成像式频率测量

产品规格
产品介绍
成像自动调节
通过软件可实现自动调节光圈及对焦,成像清晰,并可自动匹配合适的待测样品尺寸和亮度范围
高速率数据传输
内部采用高速数据总线,速率是GigE接口20倍,有效减少数据传输时间
高精度测定
针对速度、分辨率和测量精度进行了优化。可监测焦距和光圈值,自动匹配校正数据,确保精准的测量结果。
智能硬件架构
采用FPGA+GPU的智能架构,实现智能取图与处理的一体化,可独立于PC工作。同时搭配软件可加快测量设置并简化操作,自动匹配合适的均匀场标定,确保精准的测量结果
面向解决方案
可选配不同焦距,不同光圈的镜头,提供不同FOV,不同工作距离,不同亮度范围下的面阵多点同时测量解决方案
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产品详情

高速率数据传输 成像式频率测量

LCD、OLED、Mini-LED和Micro-LED等显示屏的画面闪烁度测量

 

功能应用

成像式频率测量仪器

 

应用终端

LCD、OLED、Mini-LED和Micro-LED等显示屏的画面闪烁度测量

成像式频率测量仪器

可进行远距离多区域 Flciker调测

可实现显示模组频率等测

技术优点

  • 成像自动调节
    通过软件可实现自动调节光圈及对焦,成像清晰,并可自动匹配合适的待测样品尺寸和亮度范围

  • 高速率数据传输
    内部采用高速数据总线,速率是GigE接口20倍,有效减少数据传输时间

  • 高精度测定
    针对速度、分辨率和测量精度进行了优化。可监测焦距和光圈值,自动匹配校正数据,确保精准的测量结果。

  • 智能硬件架构
    采用FPGA+GPU的智能架构,实现智能取图与处理的一体化,可独立于PC工作。同时搭配软件可加快测量设置并简化操作,自动匹配合适的均匀场标定,确保精准的测量结果

  • 面向解决方案
    可选配不同焦距,不同光圈的镜头,提供不同FOV,不同工作距离,不同亮度范围下的面阵多点同时测量解决方案

 

关键技术点

采用的传感器具备高速,高分辨率,采用TEC制冷技术,有效降低传感器噪声,减小因温度引起的测量误差。

采用创新技术,CIE匹配滤色片和中性密度滤光片,严格匹配人类视觉感知,确保精准的测量结果。

配套软件支持向导式屏体自动适配与IC适配。

可视化图像与数据分析。

技术参数

名称

成像式频率测量

Flicker标准

EIAJ(JEITA)Flicker

可测量屏体频率

1-180Hz

1-480Hz

传感器分辨率

720×540像素

812×620像素

有效测量分辨率

1x1~450x450Points

测量范围

1~100000nit(带选配的ND滤镜)

焦距

16-55mm(可选配)

精度

±1db

可重复性

1.2 db

测量时间

1sec


同步信号搜索

测量范围

1~10000 nit

检测范围

目标频率±2Hz

精度

士0.1Hz

可重复性

0.015Hz

检测时间

2.5sec

基本参数

电源

DC 8-14v

功耗

22Watts   (max)

通信接口

USB 3.0

操作温度

0~40℃

存储温度

-5~50°C(非冷凝)

尺寸(宽×长×高)

90mm×90mm×116mm(不含镜头)

重量

1.2kg(不含镜头)

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