菲希尔 X射线荧光分析仪 FISCHERSCOPE X-RAY PCB系列

FISCHERSCOPE X-RAY PCB系列 X射线荧光分析仪

用于测试印刷电路板的专业XRF系列

如今的印刷电路板有大量的涂层接触点。为了保证焊接点的可靠性、耐腐蚀性和保质期，各种材料各自的厚度必须保证相应的正确。为了监测这些严格的规格，能量色散X射线荧光是首选的方法。

通过PCB系列，Helmut Fischer为印刷电路板提供专门的测量解决方案。PCB专家能为简单亦或是费时费力的测量任务以及低至纳米范围的层厚测量提供可靠和快速的结果。

根据您的要求，有各种型号可供选择。给我们打电话吧! 我们在这里为你服务。

FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB

对于简单的测量和抽查，FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®-PCB是理想的XRF仪器。作为一款强大的入门级仪器，该XRF光谱仪配备了一个比例计数管接收器，这使得测量时间很短。

用于标准应用的钨靶微聚焦射线管

产品特点

最小的测量点Ø约0.15毫米

用于分析从钾（19）到铀（92）元素的比例计数管接收器

Fischer公司的专利：DCM方法，可简单快速地调整测量距离

固定的、宽大的样品台，用于印刷电路板，最大尺寸为610 x 610 mm (24" x 24")

最大样品高度为90毫米

完全受保护的仪器，根据德国辐射保护法获得型号认证

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®-PCB也配备了一个比例计数管。然而，这台XRF仪器有各种准直器和滤波器可选，因此您可以为您的任务创造最佳的测量条件。在基本配置中，它有一个拉出式样品台，这简化了PCB的定位。根据要求，还可以提供一个可编程的XY平台，用于自动测量。

产品特点

用于标准应用的钨靶微聚焦射线管

4个可切换的准直器，以优化测量条件

3种可切换的滤波器，为更复杂的任务提供更好的激发条件

最小的测量点约Ø0. 15 mm

比例计数管接收器，用于分析从钾(19)到铀(92)的元素

手动抽拉式或可编程的自动测量平台，用于印刷电路板，最大尺寸610 x 610 mm (24" x 24")

最大样品高度。5毫米

Fischer的专利：DCM方法，用于简单快速地调整测量距离

根据德国辐射防护法，作为完全受保护的仪器进行单独验收

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL PCB

与XULM-PCB和XDLM-PCB相比，FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB配备了一个高灵敏度的硅漂移探测器（SDD）、不同的准直器和滤波器。这也为测试ENIG和ENEPIG工艺的镀层创造了最佳的测量条件。在其基本配置中，该仪器有一个拉出式样品台，简化了PCB的定位。根据要求，它可以配备一个用于大型PCB的样品台扩展。

产品特点

钨靶或铬靶微聚焦射线管

4个可切换的准直器，用于优化测量条件

3种可切换的滤波器，用于更复杂任务的最佳激发条件

最小的测量点Ø约0。 15 mm

硅漂移检测器（SDD）用于分析从铝（13）到铀（92）的元素

Fischer的专利。DCM方法用于简单而快速地调整测量距离

手动抽拉式平台，适用于610 x 610 mm (24" x 24")的印刷电路板

最大样品高度为10 mm

根据德国辐射防护法，作为完全保护的仪器进行单独验收

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB

在需要高可靠性的应用中，印刷电路板是质量关键性的部件。在这种情况下，要采用符合ENIG和ENEPIG工艺的高端涂层。由于这些工艺中最薄的涂层厚度在40至100纳米之间，比例计数管的精度已不足以监测该工艺。这时FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB就是正确的选择。高灵敏度的硅漂移检测器（SDD）和多毛细管光学器件的结合，可以对尺寸小于50微米的结构进行精确测量。

特别是在处理非常小的结构时，如果要检查大量的随机样品，单独选择每个测量位置会花费很多时间。但是通过Fischer软件实施的图像识别功能，你可以省下这些力气。只需存储图像的一个局部。XDV-µ PCB就会搜索相应的结构，并自动测量它们。

产品特点

钨靶或钼靶的微聚焦射线管

4种可切换的滤波器，用于更复杂任务的最佳激发条件

多毛细管光学器件，用于非常小的测量点约Ø20或10微米

硅漂移探测器（SDD），用于分析从铝（13）到铀（92）的元素

可编程测量平台，可选择带真空平台的FLEX PCB

最大样品高度< 4-5毫米

根据德国辐射防护法，作为完全保护仪器进行单独验收