德谱仪器 RoHS卤素检测仪 IDP-7300-宜器服务网

产品详情

产品介绍

IDP-7300是一款全新开发研制的集镀层测厚、RoHS指令/卤素指令/八大重金属指令一体的X荧光光谱仪。集准确、快速、无损、直观及环保五大特点，采用分析仪器行业最先进的极速探测器技术（SDD）。采用德国专业技术，可实现图像联动控制，多点连续测试。新增加电动开发的样品腔使操作更加方便，全新设计自动样品平台让准确检测得到保证。

产品性能

采用极速探测器技术；

分辨率最低至125eV；

探测信噪比更强，检出限更低；

采用行业最先进的数字多道技术；

采用大功率X光管及先进的准直滤光系统；

光闸系统，提高测试效率与测试精度；

精密的定位系统，更清晰的显示测试点；

多点测试，多点连续测试超小样品检测；

人性化的设计：更安全、更快捷：预约预热：预约关机。

产品优点

可测ROHS及金属镀层，ROHS/无卤元素分析可以一次性测试完成，无需分开测试。

核心配件均采用进口件

仪器测试过程中无意开盖，仪器装有开盖切断开关，可预防辐身安全。

每年进行仪器免费检测调校

X光管设计使用寿命为2万小时.德谱独有的延长光管使用寿命的技术：

光管自动防老化功能。

自动跟进不同材质选择不同的光管电流。

强大的散热系统保证光管正常的工作条件;

技术参数

型号	IDP-7300
测试对像	粉末、固体、液体
元素分析范围	钠（Na）－铀（U）
同时最多可测元素	36种
含量分析范围	1ppm～99.99%
工作稳定性	总荧光强度为0.1％
测试时间	60～200秒
探测器分辨率	127eV±5
多道分析器	4096道
进口高端DSP数字信号处理芯片	64位处理
X射线光管	功率50W，靶材可选Ag、Rh、W、Mo
高压电源	电压范围0~50KV，稳定度每小时小于0.05%
最低检出限	Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm
探测系统	全自动对点探测系统鼠标点击,自动对点
升降软件系统	电控全自动机盖升降软件独立控制
外型尺寸	720mm×560mm×450mm(不包括支脚)
测量仓	400mm×280mm×100mm
重量	60Kg
镀层技术参数
可测镀层数	最多可达5层
镀层种类	单金属镀层、合金镀层
镀层识别精度	分析检出限可达2ppm，最薄可测试0.005μm。
厚度测试范围	轻金属（如：Ti、Cr等）0.01～50um 中金属（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um 重金属（如：Pt、Au、Pb等）0.005～15um

标准配置

配置	数量	单位
仪器主机部分主要配置	1	套
1. SDD硅漂移探测器(进口) AMPTEK	1	套
2.低功率X光管	1	个
3. 高压电源	1	个
4. 2048道数字多道分析器	1	套
5. 高精密CCD	1	个
6. 滤光片组	5	组
7. 准直器：8种准直器自动切换	6	个