恩智 超级电容全参数测试仪 N8100系列

N8100A多通道充放电测试仪，提供超级电容全参数测试多种测试方法，用户可根据需要灵活选择。N8100A上位机软件支持平台化测试应用，用户可根据测试工艺和测试流程自行定制测试文件，测试结果可方便存储和导出。导出格式可支持数据库、EXCEL、JPG文件。适用于超级电容器研发、生产与品质检测。

型号选型表

性能特点：

■  恒流充电、恒流放电、恒压充电、恒压放电、循环寿命、充电容量，放电容量、DCIR、漏电流，自放电等全参数测试  

■  电流范围：0-1A/10A，电压范围：0-6V  

■  3U机框可容纳30通道，超高空间利用率  

■  采样&通讯间隔可设，最小可低于10ms，测量结果更准确  

■  每通道对应状态指示灯，分选更方便  

■  强大的数据存储与分析功能  

■  百兆以太网通讯  

功能与优势

容量测量  
N8100可测量超级电容容量参数，含充电容量和放电容量。 测试方法为：对被测超级电容以恒定电流进行充（放）电， 在充（放）电过程中记录时间和电压参数，通过计算充（放） 电过程中电压对时间的斜率计算容量。用户可根据IEC等各 种测量标准自行选择电压、时间参数进行计算。  

直流内阻(DCIR)测试  
N8100可通过重复充放电循环测试，测量超级电容在充放电 过程中表征寿命特征的各项物理参数并提取其衰减曲线。通 过分析参数衰减曲线，用户可获取超级电容在不同应用环境 下的预计寿命、充放电周期以及在不同阶段的性能指标。寿 命测试结果可用于指导材料、工艺、存储等诸多环节的改善。 

寿命测试 

N8100可通过重复充放电循环测试，测量超级电容在充放电过程中表征寿命特征的各项物理参数并提取其衰减曲线。通过分析参数衰减曲线，用户可获取超级电容在不同应用环境下的预计寿命、充放电周期以及在不同阶段的性能指标。寿命测试结果可用于指导材料、工艺、存储等诸多环节的改善。   

四线制测量功能 
超级电容测试过程中需要输出较大电流，测试线将会引入较大电压降（线损），影响测量精度。N8100全系列型号均采用四线制接线方式，直接采集超级电容两端电压而避免因测试线线损带来的电压误差，从而确保测量精度。 

测试夹(治)具 

考虑到不同规模的测试应用场景，NGI提供两种测试夹（治）具供用户选择：开尔文夹、12通道专用治具。两种测试夹（治）具均为四线制接法。   

测试软件 
(1) N8100测试软件采用平台化设计，用户可根据工艺需求自行定制测试流程。 
(2) 类Office界面风格，各通道独立显示，支持电压电流波形绘制，可以表格形式显示结果等诸多元素，使得这款专业软件在具备强大测试功能同时，兼具美观易用优点。 
(3) 设计有功率限制电路，反应时间极短，可有效保护负载不会因为过功率而损坏。 

(4) 采用全屏蔽技术，对恶劣测试环境具有广泛适应性，有效提高了负载抗干扰能力。   

应用领域

产品尺寸