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2600B系列
2600B系列

美国泰克 数字源表 2600B系列

品牌名称:美国泰克

产品型号:2600B系列

产品规格
产品介绍
2600B系列系统数字源表源测量单元(SMU)仪表是业界一流的电流/电压源 与测量解决方案,它是利用吉时利第三代源测量单元(SMU)技术建造的。2600B 系列产品包括单通道和双通道型号,集成了高精密电源、真正电流源、6位半数字多用表(DMM)、任意波形发生器、脉冲发生器以及电子负载等功能——这些功能都在一个高度集成的仪器机箱内。这是一个功能强大的解决方案,大大提高了从台式 I/V特性分析道高度自动化生产测试等各种应用中的测试效率。对于台式应用,2600B系列数字源表内置基于Java的测试软件,支持即插即用I/V测试,可以通过世界各地任何计算机浏览器运行。对于自动化系统应用,2600B系列数字源表的测试脚本处理器(TSP),可以运行仪器内存储的完整测试程序,实现超高的吞吐量。在更大型的多通道应用中,吉时利的TSP-Link技术与TSP协同工作,实现了高度、SMU-per-pin并行测试。由于2600B系列数字源表源测量单元(SMU)仪表具有不需要主机的、完全隔离的通道,因此,可以根据测试应用需求的进展,很容易进行重新配置和重新部署。
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产品详情

2600B系列 数字源表 
2600B系列系统数字源表源测量单元(SMU)仪表是业界一流的电流/电压源 与测量解决方案,它是利用吉时利第三代源测量单元(SMU)技术建造的。2600B 系列产品包括单通道和双通道型号,集成了高精密电源、真正电流源、6位半数字多用表(DMM)、任意波形发生器、脉冲发生器以及电子负载等功能——这些功能都在一个高度集成的仪器机箱内。这是一个功能强大的解决方案,大大提高了从台式 I/V特性分析道高度自动化生产测试等各种应用中的测试效率。对于台式应用,2600B系列数字源表内置基于Java的测试软件,支持即插即用I/V测试,可以通过世界各地任何计算机浏览器运行。对于自动化系统应用,2600B系列数字源表的测试脚本处理器(TSP),可以运行仪器内存储的完整测试程序,实现超高的吞吐量。在更大型的多通道应用中,吉时利的TSP-Link技术与TSP协同工作,实现了高度、SMU-per-pin并行测试。由于2600B系列数字源表源测量单元(SMU)仪表具有不需要主机的、完全隔离的通道,因此,可以根据测试应用需求的进展,很容易进行重新配置和重新部署。

基于Java的即插即用I/V测试软件

2600B系列数字源表是内置基于Java测试软件的源测量单元(SMU)仪表, 支持真正的即插即用I/V特性分析,可以通过世界各地任何计算机浏览器运行。这个独特功能提高了研发、教育和QA/FA等各种应用的测试效率。只需通过附送的 LAN电缆,将2600B数字源表连接至互联网,打开浏览器,输入2600B的IP低至,即可开始测试。测试结果可以下载之电子数据表(如Excel),供进一步的分析和格式化,或者导入其他文档或演示文稿。

2600B-1.jpg

采用TSP技术,提供无与伦比的吞吐量,适合自动测试

对于需要最高自动化和吞吐量级别的测试应用来说,2600B数字源表的TSP技术提供了优秀的性能。TSP技术远远超越传统的测试命令序列……它完全嵌入,然后,在源测量单元(SMU)仪器内部执行完整的测试程序。这实际上避免了所 有耗时的总线-PC控制器之间的通信,因此,大幅缩短整个测试时间。

2600B-.jpg

TSP技术将执行来自2600B系列数字源表内非易失性存储的完整测试程序。


通过TSP-Link技术,实现SMU-Per-Pin并行测试

TSP-Link是通道扩展总线,支持多 个2600B系列数字源表互连,成为一个单 一、严格同步的多通道系统。2600B的 TSP-Link技术与其TSP技术协同工作,支 持高速、SMU-per-pin并行测试。与大型 自动测试设备系统等其他高速解决方案 不同的是,2600B在无需主机成本或负担 情况下,实现了并行测试性能。基于TSP -Link技术的系统,还支持出众的灵活性, 可以根据测试需求的变化,迅速而容易 地对系统进行重新配置。

2600B-3.jpg

在TSP-Link系统中,所有通道的同步都控制在 500ns以内。


2400型软件仿真

2600B系列数字源表,与为吉时利2400 型数字源表源测量单元(SMU)仪表开发的测试代码兼容。这使得基于2400型数字源 表的测试系统更容易地升级至2600B系列, 并使测试速度提高高达80%。此外,它还提供了从SCPI编程转到吉时利TSP技术的过渡路径,实施后,可以进一步缩短测试时间。
为了全面支持遗留的测试系统,在这个模式下,还完全支持2400型源存储清单测试序列。


第三代SMU设计,确保实现更快的测试时间

在早期2600系列仪器成熟的架构基础 上,2600B系列最新的源测量单元(SMU) 仪表设计从几个方面提高了测试速度。例 如,早期的设计采用的是并联电流量程调 节结构,而2600 B系列采用了已申请专利(发明专利,专利号CN104935322)的串联量程调节结构,这种结构具有更快 更平滑的量程变换过程和稳定速度更快的 输出。

2600B系列-4.jpg

SMU-Per-Pin并行测试采用TSP与TSP-Link技术,提高测试吞吐量,并降低测试成本。

2600B系列数字源表源测量单元 (SMU)仪表设计支持对各种负载使用 两种操作模式。在普通模式下,源测 量单元(SMU)仪表为最大吞吐量提供 高带宽性能。在高电容模式下,源测 量单元(SMU)仪表使用较慢的带宽, 为较高电容负载提供鲁棒的性能。


简化半导体元件测试、验证与分析

可选配的ACS Basic版本软件实现了客户效率的最大化,使客户可以在开发、质量认证或故障分析中,对封装器件进行特性分析。主要特性包括:

内容丰富、易于访问的测试库

脚本编辑器,实现现有测试的快速定制

数据工具,便于迅速比较测试结果

公式工具,便于分析俘获的曲线,并提供多种数据函数。

欲了解有关ACS Basic版本软件的更多信息,参见ACS Basic版本数据表。

数字源表 2600B系列 选型表

型号

通道

最大电流源/量程

最大电压源/量程

测量分辨率(电流/电压)

电源

2601B

1

10A

40V

100fA / 100nV

200 W

2611B

1

10A

200V

100fA / 100nV

200 W

2604B

2

10A

40V

100fA / 100nV

200 W

2614B

2

10A

200V

100fA / 100nV

200 W

2602B

2

10A

40V

100fA / 100nV

200 W

2612B

2

10A

200V

100fA / 100nV

200 W

2635B

1

10A

200V

0.1fA / 100nV

200 W

2634B

2

10A

200V

1fA / 100nV

200 W

2636B

2

10A

200V

0.1fA / 100nV

200 W

 

技术参数

量程

编程分辨率

精度(1年)
  23°C ±5°C
  ±(% rdg. + 伏特数)

典型噪声
  (峰-峰值)
  0.1Hz–10Hz

100 mV

5 μV

0.02% + 250 μV

20 μV

1 V

50 μV

0.02% + 400 μV

50 μV

6 V

50 μV

0.02% + 1.8 mV

100 μV

40 V

500 μV

0.02% + 12 mV

500 μV

 

温度系数 (0°–18°C & 28°–50°C)2:±(0.15 × 精度指标)/°C。
仅适用于普通模式,不适用于高电容模式。
最大输出功率和源/宿极限3:每通道最大40.4W。±40.4V@ ±1.0A,±6.06V@ ±3.0A,四项限源或宿操作。
电压调节:线:量程的 0.01%。负载:±(量程的0.01% + 100μV)。
噪声:10Hz~20MHz:<20mV 峰-峰值(典型值),<3mV RMS(典型值),6V量程。
电流极限/柔度4: 单值设置双极电流极限(柔度)。最小值10nA。精度与电流源 相同。
过冲:典型值<±(0.1% + 10mV)。步进值=量程的10%~90%,电阻负载,最大电流 极限/柔度。
保护偏移电压:典型值 < 4mV。电流 < 10mA。


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