美国泰克 大功率系统数字源表 2651A

2651A  大功率系统数字源表 
大功率2651A 型数字源表进一步丰富了2600A 系列产品。该源表专门针对大功率电子器 件的特性分析和测试而优化设计，可帮助用户在研发、可靠性及生产领域提高生产力，包 括高亮度LED、功率半导体、DC/DC 转换器、电池，以及其他大功率材料、元件、模块 和组件的特性分析和测试。

与2600A 系列产品的每个成员一样，2651A 具有高灵活性、四象限电压和电流源/负载， 组合了精密电压和电流表。该源表可作为：

• 半导体特征分析仪
  

• 电压或电流波形发生器
  

• 电压或电流脉冲发生器
  

• 精密电源
  

• 真电流源
  

• 数字多用表(直流电压，直流电流，电阻和功率，分辨率达5½位)
  

• 精密电子负载
  

2651A 型可输出或吸入高达±40V 和50A。

产品主要特性：

• 源或阱：
  - 2,000W脉冲功率(±40V，±50A);
  - 200W直流功率(±10V@±20A、±20V@±10A、±40V@±5A)
  

• 方便地连接两个单元(串联或并联)形成±100A 或±80V 解决方案
  

• 1pA 分辨率，可精密测量极低的漏电流
  

• 1μs/点(1MHz)，连续18 位A/O 转换器，精确的瞬态特性分析
  

• 1%至100%脉冲占空比，适用于脉宽调制(PWM)驱动型器件和特殊驱动类型期间的激励
  

• 组合了精密电压源、电流源、数字多用表、任意波形发生器、电压或电流脉冲发生器及测量、电子负载及触发控制器——多功能一体的仪器
  

• 包括TSP®Express 特性分析软件、LabVIEW®驱动，以及吉时利的Test Script Builder(测试脚本编辑器)软件开关环境。

典型应用：

• 功率半导体、HBLED 和光器件特性分析和测试
  

• GaN、SIC 及其他复合材料和器件的特性分析
  

• 半导体结温度特性分析
  

• 高速、高精度数字化
  

• 电迁移研究
  

• 大电流、大功率器件测试
  

两种测量模式：数字化或积分

2651A 型有两种测量模式可对瞬态和稳态行为进行精密地特性分析，包括快速变化的热 效应。每种模式均由其独立的模/数(A/D)转换器定义。

在数字化测量模式下，连续进行1μs/点采样，每秒可捕获1,000,000 个读数。其18 位 A/D 转换器使用户能够精密测量瞬态特性。对于更准确的测量，可利用基于22 位A/D 转 换器的积分测量模式。全部2600A 系列仪器均具有积分测量模式。

每种测量模式下使用两个A/D 转换器(一个 用于电流，另一个用于电压)，可同时运行 用于准确源读回，不会影响测试效率。

双数字化A/D 转换器以高达1μs/点速率进行连 续采样，同时对电流和电压波形进行特性分析。

高速脉冲

2651A 型能够准确输出和测量短至100μs 的脉冲，将测试期间的自热效应影响降至 最低。更大的控制灵活性使用户能够在 100μs 至DC 范围内编程脉宽，在1%至 100%范围内编程占空比。单台仪器可输出 高达50A 电流脉冲，两台组合可输出高达 100A 电流脉冲。

扩展能力

利用TSP-Link®，可将多台2651A 和其 他2600A 系列仪器组合在一起，形成最 多64 路通道的更大集成系统。利用内置 500ns 触发控制器，确保精密定时和严 格通道同步。源表仪器的完全隔离、独 立通道确保了真正的SMU-per-pin 测试。

吉时利的TSP 和TSP-Link 技术确保实现真 正的SMU-per-pin 测试，不存在基于主机系 统的功率和/或通道限制。

此外，两台2651A 型采用TSP-Link 并 联时，电流量程从50A 扩展至100A。 当两个单元串联时，电压范围从40V 扩 展至80V。内置智能特性使多个单元可 作为单台仪器进行寻址，简化了测试， 由此形成业内最佳的动态范围(100A 至 1pA)。这种能力确保用户可测试各种各 样的功率半导体和其他器件。

高达50A (2 个单元可达100A)的精密测量确 保更完善和准确的特性分析。

1μV 测量分辨率和高达50A (2 个单元可达 100A)的电流源输出确保低电平Rds 测量，支 持新一代器件。

大功率系统数字源表 2651A 技术参数