产品介绍
台湾Optimum制造的HA-4000UVC光谱辐射计配备内置暗电流校准的CCD探测器,可提供紫外辐照度,光谱,峰值波长, 可以在主波长等紫外区域(200~430nm之间)进行光谱辐照度测量。 还包括一个PDK(程序开发套件),一台计算机最多可控制七个HA-1UVC单元。
产品特点
紫外区域(200~430nm之间)的光谱辐照度测量
紫外线辐照度
光谱
峰值波长
主波长等
包括 PDK(程序开发套件)
一台设备可控制多达七个 HA-1UVC
技术参数
HA-4000UVC | HA-4000UV | |
探测器类型 | 滨松CCD线性阵列 | 滨松CCD线性阵列 |
波长范围 | 200 纳米至 430 纳米 | 200 纳米至 800 纳米 |
光谱仪光学布局 | 交叉的切米-图默尔 | 交叉的切米-图默尔 |
检测器像素格式 | 2048 片 @14um x 200um 每片 | 2048 片 @14um x 200um 每片 |
数字化仪分辨率 | 16-位R65536:1 | 16 位或 65536:1 |
积分时间 | 1ms,以1us为增量可调 | 1ms,以1lus为增量可调 |
光谱分辨率 | 0.25nm 至 0.35nm 取决于狭缝宽度 | 0.25nm 至 0.35nm 取决于狭缝宽度 |
入口狭缝 | 和纤维直径 | 和纤维直径 |
动态范围 | 50微米,100微米,150微米 | 50微米,100微米,150微米 |
富华姆 | 1300:1 单次采集 | 1300:1 单次采集 |
尺寸 | 3纳米 | 6纳米 |
工作温度 | 98(宽)x 65(宽)x 36(高)毫米 | 98(宽)x 65(宽)x 36(高)毫米 |
工作相对湿度 | 5°C-350°C | 5°C~35°C |
重量 | 85%无冷凝 | 85%无冷凝 |
计算机接口 | 263克 | 263克 |
操作系统 | USB 2.0 接口 | USB 2.0 接口 |