中电思仪光谱分析仪 6362D-宜器服务网

产品详情

6362D 光谱分析仪
6362D光谱分析仪（简称：光谱仪）是一款高分辨、大动态高速高性能光谱分析仪，适用于600～1700nm光谱范围的DWDM、光放大器等光系统测试； LED、FP-LD、DFB-LD、光收发器等光有源器件测试；光纤、光纤光栅等光无源器件测试。

主要特点

20pm最小光谱分辨率

600～1700nm光谱扫描范围

78dB大动态范围

-90dBm最高灵敏度

支持空间光输入

内置光源输出配置可选

强大的多应用光谱数据分析功能

12.1英寸触控显示、全中文操作

产品功能

20pm最小分辨率

6362D光谱分析仪（光谱仪）支持不同光谱分辨率的设置，多种光谱分辨率设置灵活切换，最小光谱分辨率优于20pm。

峰值检索

6362D光谱分析仪（光谱仪）采用拥有自主知识产权的光谱自适应峰值检索算法，峰值检索准确度高，自适应性和鲁棒性强，且运算速度快。

单纵模激光光谱分析

6362D光谱分析仪（光谱仪）具备多场景光谱分析功能，针对DFB-LD等单纵模激光光源，仪器提供阈值分析和边模抑制比分析两种分析方法，有效准确的评估单纵模待测光源的中心波长、光谱带宽和边模抑制比。

多种光电子器件应用分析功能

6362D光谱分析仪（光谱仪）可以对LED、FP-LD、DFB-LD、LD模块等各类型激光器进行一键测试与分析，实现所有测试项目批处理。

除半导体激光光源光谱测量应用外，仪器还集成了光纤偏振模色散测量应用、波分复用应用、光纤放大器应用、波分复用滤波器应用、波分复用光纤放大器应用等光谱应用功能，下图是典型的波分复用应用分析。

技术参数

型号		6362D
项目		规格
光请范围		600~1700nm
扫描跨度		0.2~1100nm (全范围跨度)
波长精度		+0.02nm (1520~ 1620nm) 、 +0.04nm (1450 ~ 1520nm) 、+0.10nm (全波长范围)
波长线性度		+0.01nm (1520~ 1580nm)
波长重复性		+0.005nm (1 min)
波长分辨率设置		0.02、0.05、0.1、0.2、0.5、1、2nm
最小采样分辨率		0.001nm
采样点数		101~ 50001、AUTO
功率灵敏度设置		NORMAL、 MID、HIGH1、HIGH2和HIGH3
功率灵敏度		-90dBm (1300 ~ 1620nm)、-85dBm (1000 ~ 1300nm) 、 -60dBm (600 ~ 1000nm) (灵敏度: HIGH3)
最大输入功率		+20dBm (每通道、全波长范围)
最大安全输入功率		+25dBm (总输入功率)
功率精度		±0.4dB(1310/1550nm,输入功率: -20dBm, 灵敏度: MID)
功率线性度		±0.05dB(输入功率: -50~ +10dBm)
功率平坦度		0.1dB(1 520~ 1 580nm)、 +0. 2dB(1 450~ 1 520nm、1580 ~ 1620nm)
偏振相关性		+0. 08dB(1 550nm)
动态范围	分辨率: 0.02nm	63dB(峰值0.2nm, Typ.66dB)、46dB(峰值+0.1nm, Typ.50dB)
	分辨率: 0.05nm	73dB(峰值1.Onm, Typ.76dB) 、70dB(峰值0.4nm, Typ.73dB) 、 63dB(峰值+0.2nm,, Typ.66dB)
	分辨率: 0.1nm	67dB(峰值t0.4nm, Typ.70dB) 、57dB(峰值0.2nm, Typ.60dB)
杂散光抑制率		76dB
光回波损耗		35dB (使用APC连接器时)
适用光纤		SM(9.5/125μm)、GI(50/125μm、62.5/125μm)、大芯径、光纤(最大200μm)
光源输出		山厂安装标配: DFB光源(1550+5nm); 可更换光源:详见选件
显示		12.1英寸触摸屏
存储		128GB
接口		USB/以太网/RS232C/VGA
工作条件		环境温度：0℃~40℃：湿度：<80%
		件能保证温度：18~28℃
外形尺寸		宽x高x深=426mmx221mmx450mm
重量		约19kg
电源		100~240VAC、50\60Hz
最大功耗		约100W
预热时间		至少1h(预热后,需要内置光源进行内置光源校准。)

中电思仪 光谱分析仪 6362D

中电思仪光谱分析仪 6362D