icon icon icon
banner图片
Image
5233D

中电思仪 误码测试仪 5233D

品牌名称:中电思仪

产品型号:5233D

产品规格
产品介绍
5233D误码测试仪主要用于数字光收发模块的误码性能测试。采用可更换接口板设计,可支持多种数字光收发模块,包括CFP、CFP2、CFP4、CFP8、CSFP、CXP、CXP2、DSFP、QSFP、QSFP+、QSFP28、SFP、SFP+、SFP28、XFP等。5233D误码测试仪采用标准2U机架式结构,支持RS232和以太网远程控制,具有比特误码测试、误码率眼图、电压拉偏、预加重控制、幅度控制、温度与功耗监测及DDM监视功能。端口速率覆盖100Mbps~400Gbps,适合于各种数字光收发模块的研制和生产测试。
渠道商
产品详情

5233D 误码测试仪 
5233D误码测试仪主要用于数字光收发模块的误码性能测试。采用可更换接口板设计,可支持多种数字光收发模块,包括CFP、CFP2、CFP4、CFP8、CSFP、CXP、CXP2、DSFP、QSFP、QSFP+、QSFP28、SFP、SFP+、SFP28、XFP等。5233D误码测试仪采用标准2U机架式结构,支持RS232和以太网远程控制,具有比特误码测试、误码率眼图、电压拉偏、预加重控制、幅度控制、温度与功耗监测及DDM监视功能。端口速率覆盖100Mbps~400Gbps,适合于各种数字光收发模块的研制和生产测试。

产品主要特点

支持SFP28、QSFP28等15种数字光收发模块

一台机箱可配置1~4个测试模块,每个模块支持2、4或8个端口

支持100G OTN、40GE、100GE二层协议

自动识别载板和光模块种类并进行控制

按端口和通道进行误码测试

为光模块提供电源,并可以进行电压拉偏控制

光模块工作电压、电流与功耗测试

具有DDM监视功能,通过I2C或MDIO接口对光模块进行控制和状态读取

具有眼图扫描功能

光模块工作环境温度监测

命令式远程控制,适合定制自动化测试

产品功能

5233D-1.jpg


比特误码测试与眼图分析

支持比特误码和眼图分析功能,支持27-1 、29-1、211-1、215-1、220-1、223-1、231-1等PRBS图形;支持非帧与成帧两种数据类型。


光模块控制及系统信息

可对载板中插入的光模块单独操作,包括上电、掉电、发光、复位等,可显示系统信息及光模块类型。

5233D-2.png

5233D-3.jpg


光模块信息查看

具有全面的信息查询功能,支持告警信息、光模块寄存器信息、DDM监控信息查看。


技术参数

机箱尺寸宽×高×深(mm):500×89×500(+5%)
支持光模块类型CFP、CFP2、CFP4、CFP8、CSFP、CXP、CXP2、
DSFP、QSFP、QSFP+、QSFP28、SFP、SFP+、SFP28、XFP
机箱最大装入功能板数量4
支持协议类型100G OTN、40GE、100GE
测试速率范围100Mbps~400Gbps
误码测试图形27-1、29-1、211-1、215-1、220-1、223-1、231-1,可反向
远程控制端口类型4个RS232端口和2个以太网端口
光模块工作电压、电流与功耗测试
具有DDM监视功能,通过I2C或MDIO接口对光模块进行控制和状态读取
具有眼图扫描功能
命令式远程控制,适合定制自动化测试


相关产品
资料申请
在线留言