绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统
面对电子产品越来越小型轻量及高密度封装,因结露吸湿等因素造成的绝缘不良现象暨离子迁移现象日益突出,绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统配之以高温高湿试验箱联动,可高精度连续监测,高效简便评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。适用标准:JPCA-ET04、IPC-TM-650_2.6.3F 、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A 、IPC-TM-650_2.6.3.6。
性能特点
高精准测量
自主开发连续通电扫描继电器方式,配备国际标准的测量仪表,与环境试验箱联动,操作更简便更安全。
应力电压范围广泛
标配100V应力电压(应力电压/测量电压),更有300V、500V高电压规格备选。
连续通电扫描方式
ESPEC独有扫描动作技术,切换扫描时不发生无电压状态,测量电压与偏置电压均使用同一电压源控制,可准确控制电压。
漏电流检测功能
高速准确捕捉离子迁移现象发生的细微变化,离子迁移实时监测。
专用统计软件
「E-Graph」可实时编辑预览监测实时获得的数据。
专用连接样件夹具
选配可使连接样品及线缆更方便,试验效率更高。
技术参数
型号 | 标准100V规格 | 300V规格(选购件) | 500V规格(选购件) | |||||
通道构成 | 标准25ch(最多至150ch) | 标准25ch(最多至150ch) | ||||||
控制方式 | 5ch | 25ch | 5ch | 25ch | 5ch | 25ch | ||
系统 | windows 7 | windows 7 | ||||||
测量性能 | 偏置电压 | 偏置电压 | 无加载、1.0~100V DC | 无加载、1.0~300V DC | 无加载、1.0~500V DC | |||
最小分辨率 | 0.1V | 0.1V(设定为1~200V时) | 0.1V(设定为1~200V时) | |||||
加载电压精度 | ±(设定值的0.7%+300mV) | ±(设定值的0.7%+300mV) | ||||||
电阻判定及测量时间 | 直流电流测量范围※1 | 0.1fA~20mA(最高分辨率:0.1fA) | 0.1fA~20mA(最高分辨率:0.1fA)※2 | |||||
电阻测量范围(Ω) | 2.0×105~1.0×1013(加载100V时) | 2.0×105~1.0×1013(加载300V时) | 2.0×105~1.0×1013(加载500V时) | |||||
测量精度※1 | ±1.015%(20pA量程、全量程) | ±1.015%(20pA量程、全量程) | ||||||
测量电压 | 1.0~100V DC(0.1V/步) | 1.0~300V DC | 1.0~500V DC | |||||
测量时间(1次)※3 | 15秒+充电时间 | 80秒+充电时间 | 15秒+充电时间 | 80秒+充电时间 | 15秒+充电时间 | 80秒+充电时间 | ||
漏电流测出功能 | 不间断,100μsec以内测出 | 不间断,100μsec以内测出 | ||||||
测量电缆 | 种类 | +极 | 单芯电缆 | 耐热单芯电缆 | ||||
-极 | 同轴电缆(防护结构) | 同轴电缆(防护结构) | ||||||
包覆材质 | 特氟隆(耐热+150℃) | 特氟隆(耐热+150℃) | ||||||
长度 | 扫描单元至中转连接器:2.5m | 扫描单元至中转连接器:2.5m | ||||||
中转连接器 | 可连接25通道 | 可连接25通道 | ||||||
测量仪表 | 型号:6514 | 型号:6514 | ||||||
外尺寸 | W530×H1750×D940mm | W530×H1750×D940mm | ||||||
电源 | 100V AC,1φ10.A | 100V AC,1φ10.A | ||||||
※1 显示的是测量仪表的测量精度及直流电流测量范围。系统的测量精度请参考精度分布图。 | ||||||||
※2 高电压偏置用中转连接器内,在每个通道的正电压加载侧串连了1KΩ的电阻,电流流过试样损失会造成的电压稍许下降。 | ||||||||
此微小电压下降没有包含在加载电压精度中。 | ||||||||
※3 偏置电压与测量电压相同时,则充电时间为零。 |