产品概述
XF-S6贵金属检测仪是西凡仪器针对贵金属行业推出的一款旗舰X射线荧光光谱仪,支持贵金属成分检测、镀层厚度检测、液体浓度检测和RoHS检测,可广泛应用于珠宝首饰工厂、实验室、检测站和回收等行业和单位。该产品采用先进的进口定制Fast-SDD探测器,内置四核工控电脑,采用X射线与可见光共焦点光路设计和全新的Smart FP算法。检测速度快,测试稳定性好、准确性高,适用范围广。
产品特点
可支持最多30个元素同时计算
分析范围:贵金属:0.010%~99.999%;镀层厚度:4层,0.002微米~80微米;RoHS:1ppm~99.999%
检测精度:贵金属:±plusmn;0.01%(999金);镀层:相对误差:±plusmn;1.5%(1微米厚度);RoHS:1ppm(理想基体效应)
支持多点连续测试,测试效率高
双准直器,多滤光片自动切换
遵守GB/T16921,ISO3497:2000,ASTM-B658,IEC62321标准。
产品规格
输入电压 | AC100~240V,50Hz |
产品包装尺寸 | 566mmx531mmx500mm |
产品尺寸 | 450mmx422mmx378mm |
样品舱尺寸 | 366mmx336mmx141mm |
额定功率 | 180W |
毛重 | 61KG(包含显示器、UPS等) |
净重 | 39KG |
噪音 | 50dB |
使用环境 | 温度:15℃~31℃ 湿度:<70%(不结露) |