产品概述
XF-S7是西凡仪器面向首饰展厅和典当回收行业推出的一款高配置贵金属检测仪。该产品采用全新的垂直光路系统、先进的进口定制Fast-SDD探测器以及多准直器系统,可以支持对样品凹位的检测及易于小样品分析。内置工控电脑、IPS液晶屏和多点触摸屏,支持API接口、支持外网对设备的控制。
产品特点
检测范围:钾K(No.19)~铀U(No.92)
样品可视,铅玻璃窗口、方便观察
操作简单,一键测试,全触屏操作
检测精度高,999金(0.01%)
美观大方,体积较小,适用于柜台展示
售后保障,在线远程/上门服务
主要参数
核心特征 | 可测戒指内圈+高精确度±0.01% |
精确度 | ±0.01% |
整机分辨率 | 130±5eV |
探测器 | 进口Fast SDD探测器 |
适用温度 | -11~46℃ |
规格尺寸 | 467×370×336(mm) |
样品腔 | 310×248×124(mm) |
主体结构 | 高强度金属支架+铝合金外壳 |
电脑操作系统 | ARM 四核+Linux |
热敏打印机 | 支持 |
天平/密度仪 | 支持 |
电池支持 | 否 |
样品可视 | 样品可视 |
电压 | 100V~240V |
额定功率 | 150W |
重量 | 40公斤 |