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XF-P1

西凡仪器 镀层测厚仪 XF-P1

品牌名称:西凡仪器

产品型号:XF-P1

产品规格
产品介绍
XF-P1是西凡仪器面向镀层检测行业推出的一款镀层测厚仪,可广泛应用于各种电镀、化学镀等行业。该产品使用进口定制Si-PIN探测器,内置工控电脑,运行Smart FP算法。无需标样,可同时检测镀层厚度和成分,检测速度快,测试稳定性好、准确性高。
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产品详情

产品概述

XF-P1是西凡仪器面向镀层检测行业推出的一款镀层测厚仪,可广泛应用于各种电镀、化学镀等行业。该产品使用进口定制Si-PIN探测器,内置工控电脑,运行Smart FP算法。无需标样,可同时检测镀层厚度和成分,检测速度快,测试稳定性好、准确性高。

 

产品特点

测试范围:钾(No.19)~铀(No.92)

检测精度,相对误差±2.5%(镀层)

操作简单,一键测试,自动报表

多层分析,可支持至多四层检测

智能算法,同时分析镀层厚度和成分

售后保障,在线远程/上门,服务

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