产品概述
XF-P3是西凡仪器面向镀层检测行业推出的一款高性能镀层测厚仪,该产品采用进口定制Fast-SDD探测器,内置工控电脑,运行Smart FP算法,无需标样,可同时精准检测镀层厚度和成分。可广泛应用于各种电镀、化学镀、连接器,电镀液、PCB镀层分析等行业。检测速度快,测试稳定性好、准确性高。
产品特点
测试范围:铝Al(No.13)~铀U(No.92)
检测精度:相对误差±1.5%(镀层),±0.01%(成分)
XY平台,轻松多点测试超小样品,行程:30mm×30mm
多层分析,可支持至多十层检测
智能算法,同时分析镀层厚度和成分
多准直器,0.1*0.2mm/0.2*0.5mm/Φ1.0mm