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XF-P3

西凡仪器 镀层测厚仪 XF-P3

品牌名称:西凡仪器

产品型号:XF-P3

产品规格
产品介绍
XF-P3是西凡仪器面向镀层检测行业推出的一款高性能镀层测厚仪,该产品采用进口定制Fast-SDD探测器,内置工控电脑,运行Smart FP算法,无需标样,可同时精准检测镀层厚度和成分。可广泛应用于各种电镀、化学镀、连接器,电镀液、PCB镀层分析等行业。检测速度快,测试稳定性好、准确性高。
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产品详情

产品概述

XF-P3是西凡仪器面向镀层检测行业推出的一款高性能镀层测厚仪,该产品采用进口定制Fast-SDD探测器,内置工控电脑,运行Smart FP算法,无需标样,可同时精准检测镀层厚度和成分。可广泛应用于各种电镀、化学镀、连接器,电镀液、PCB镀层分析等行业。检测速度快,测试稳定性好、准确性高。

 

产品特点

测试范围:铝Al(No.13)~铀U(No.92)

检测精度:相对误差±1.5%(镀层),±0.01%(成分)

XY平台,轻松多点测试超小样品,行程:30mm×30mm

多层分析,可支持至多十层检测

智能算法,同时分析镀层厚度和成分

多准直器,0.1*0.2mm/0.2*0.5mm/Φ1.0mm

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