普赛斯 COC抽屉式老化 PSS COCBI系列-宜器服务网

产品详情

产品概述

普赛斯COCBI老化系统为高功率COC老化系统，支持大电流、窄脉冲加电老化，用于COC芯片在高温，稳定电流条件的长时间可靠性实验，支持前光功率检测，软件实时监测老化过程数据，支持用户对芯片进行寿命分析和老化筛选；整机采用抽屉式布局，最多支持10层，40个老化抽屉，可根据具体的老化规模需求配置老化箱的层数。

产品应用

适合裸芯片COC封装的可靠性验证

适合实验室验证或小批量测试

产品特点

每个抽屉的温度可独立控温，每个抽屉可独立加载驱动电流，可实现多温区，多品种，多过程老化

支持3A脉冲式电流、1us窄脉宽加电老化

单层老化箱可独立使用，也可通过机架组合增加老化规模，更加灵活

支持输出功率在线监测功能，每个抽屉都可以选配此功能

选配N2填充保护，支持气密型LD COC的老化

鱼骨形夹具设计，兼容前端贴片，打线工艺，整个过程无需人工转料

加热结构属于平面加热结构，有效提高夹具的温度均匀性

完善的数据库，支持本地数据库以及远程服务器SQL数据库，实时记录老化过程中的数据，并支持数据曲线回看

支持客户MES系统

系统选配UPS，防止工厂意外断电

系统自锁结构，上电后自锁，防止员工意外热插拔

产品规格

老化主机参数		指标
系统规格	单抽屉支持COC数量	支持夹具定制，每个夹具支持的数量与COC尺寸和加电电流大小相关
	抽屉个数	4~40
	抽屉DUT发热功率	＜32W
电参数	直流电流范围	0~2A
	直流电压范围	0~4V
	脉冲电流范围	0~3A
	脉冲峰值电流检测范围	0~3A
	脉冲峰值电压检测范围	0~5V
	脉冲加电特性	脉宽：1us~20us可调
		占空比：0.01%~10%可调
光参数	前光峰值功率监测	0~0.1mW,精度0.5%rdg±1uW 0~1mW,精度0.5%rdg±5uW 0~10mW,精度0.5%rdg±50uW 0~500mW,精度0.5%rdg±2.5mW
	波长	范围：850~1700nm
温控参数	温度范围	RT+20℃~120℃，更高温度可定制
	升温速度	典型值：4°C/Min
	温度稳定性	±0.5°C，典型值@100°C
	温度均匀性	±1°C，典型值@100°C
上位机	共享	共享dll
	数据库	系统自带SQL数据库，支持客户MES系统对接
	在位检测	支持
安全防护	EOS	缓慢上下电无过冲
	ESD	防静电设计
安装需求		指标	备注
系统电源		AC 220V 50HZ	两相三线制
额定功率		10KW
工作环境温度		25℃±2℃
主机占地		4㎡
氮气用量		500L/h	氧含量≤1%