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PSS-LDBI13003

普赛斯 LD集成式老化系统 PSS LDBI13003

品牌名称:普赛斯

产品型号:PSS LDBI13003

产品规格
产品介绍
LD集成式老化系统,用于各种类型封装LD器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。该系统可以通过软件配置管脚定义并提供高达500mA的驱动电流以及150℃高温老化条件,同时对器件的驱动电流、背光电流以及阈值进行实时监控测试,并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据,支持对老化失效器件的数据追述。最多支持3072pcs的单次老化。
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产品详情

产品概述

LD集成式老化系统,用于各种类型封装LD器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。该系统可以通过软件配置管脚定义并提供高达500mA的驱动电流以及150℃高温老化条件,同时对器件的驱动电流、背光电流以及阈值进行实时监控测试,并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据,支持对老化失效器件的数据追述。最多支持3072pcs的单次老化。

 

产品应用

批量生产环节中LD TO器件进行老化筛选

长时间可靠性失效测试分析

 

产品特点

提供每路完全独立的驱动电流

软件切换支持各种类型封装LD器件的老化

两个独立老化箱体,可以完全独立控制,升温速度效率高,无过冲

支持多种算法计算Ith

支持热插拔,可靠的ESD/EOS防护,保证器件老化期间的安全

支持老化板监控插拔次数在线记录功能

64路老化板作为通用载体,可以实现盘测、老化、分拣不同工位直接的转料,提高生产效率

 

产品规格

参 数

指 标

测试路数

单板64路,左右2个仓,每层24个,共3072路

独立温区数

2个

LD驱动电流

0~250mA

LD正向电压

0~3V

LD监控电流

0~250mA

PD监控电流

0~2000uA

管脚定义

软件切换支持各种封装类型的器件

Ith   扫描

支持Im扫描计算Ith

温度范围

RT+20℃~150℃

温度精度

±2℃

温度均匀性

满载时≤3℃,空载时≤2℃

升温过冲

≤3℃

长期温度稳定性

0.5℃

升温速度

100℃/半小时

设备尺寸(宽x高x深)

1400   x 1800 x 1200(mm)

电源规格

三相五线AC 380V/50HZ


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