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PSS EMLBI11536/21536

普赛斯 EML TO老化测试系统 PSS EMLBI11536/21536

品牌名称:普赛斯

产品型号:PSS EMLBI11536/21536

产品规格
产品介绍
普赛斯EML TO集成式老化测试系统 用于EML TO器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。系统支持最大1536路器件老化,通过外部环境控温或对器件内部TEC进行高温控温,为LD器件提供恒定电流来实现对EML器件的老化,系统可实时显示老化电流、背光电流、正向电压、EA电流等参数并且图形直观显示,便于用于观察老化过程中的异常情况,通用老化板兼容我司EML TO盘测系统,显著提高测试效率和TO产品质量。
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产品详情

产品概述

普赛斯EML TO集成式老化测试系统 用于EML TO器件的老化筛选以及可靠性寿命分析。系统支持最大1536路器件老化,通过外部环境控温或对器件内部TEC进行高温控温,为LD器件提供恒定电流来实现对EML器件的老化,系统可实时显示老化电流、背光电流、正向电压、EA电流等参数并且图形直观显示,便于用于观察老化过程中的异常情况,通用老化板兼容我司EML TO盘测系统,显著提高测试效率和TO产品质量。

 

产品应用

批量生产环节中LD TO器件进行老化筛选

长时间可靠性失效测试分析

 

产品特点

硬件支持SOA供电,完美兼容带PD或SOA的EML激光器

支持Im扫描计算Ith

32路老化板作为通用载体,可以实现盘测、老化不同工位直接的转料,提高生产效率

每块老化板可配置不同参数进行老化,老化参数稳定可靠

支持热插拔,完善的EOS防护,保证器件老化期间安全

 

产品规格

参数

指 标

老化规模

1536

LD驱动电流

0~250mA

SOA驱动电流

0~250mA

PD反偏电压

0~5V

LD正向电压

0~5V

LD监控电流

0~250mA

SOA监控电流

0~250mA

PD监控电流

0~2000uA

EA电压

0~-5V

EA电流

0~200mA

LIV扫描

支持Im扫描计算Ith

温控方式

支持外部环境控温和TEC控温

TEC电流范围

-1A~+1A

温控范围

环境温度控温:RT+20℃~150℃

器件内部TEC控温:RT~130℃

温度稳定性

±0.5℃

数据库

系统自带SQL数据库,可以追述保存LD测试的数据

电源规格

AC   380V/50HZ

功率

AC   380V 7000W


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