产品概述
APD集成式老化系统用于光通信行业的APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA 等TO器件可靠性评估和老化筛选,最多支持3072pcs的单次老化。该系统可以提供2mA的恒流、5V的恒压以及175℃高温老化条件,同时对器件的VBR、TIA电流进行实时监控,并自动进行产品失效判断。实时储存监控数据,支持对老化失效器件追溯,能够有效的提升TO生产的效率和可靠性,可以极大的提高器件测试的产量和质量。
产品应用
批量生产环节中APD、APD-TIA 、PIN、PIN-TIA TO器件进行老化筛选
长时间可靠性失效测试分析
产品特点
提供每路完全独立的驱动电流
两个独立老化箱体,可以完全独立控制,升温速度效率高,无过冲
APD电路具有限压保护功能,防止恒流开路高电压输出损坏器件
可靠的EOS防护,上电时序先TIA上电,再APD上电,下电时序先APD下电,再TIA下电
先后延时可配置,保证器件上下电安全
64路老化板作为通用载体,可以实现盘测、老化、分拣不同工位直接的转料,提高生产效率
产品规格
参 数 | 指 标 |
测试路数 | 单板64路,左右2个仓,每层24个,共3072路 |
独立温区数 | 2个 |
APD恒流驱动 | 0~2mA |
APD电压测量 | 0~70V |
TIA恒压驱动 | 0~5V |
TIA电流测量 | 0~60mA |
VPD输出电压 | 0~20V |
PD电流检测 | 0~200uA |
温度范围 | RT+20℃~150℃,可定制支持175℃。 |
温度精度 | ±2℃ |
温度均匀性 | 满载时≤3℃,空载时≤2℃ |
升温过冲 | ≤3℃ |
长期温度稳定性 | 0.5℃ |
升温速度 | 100℃/半小时 |
设备尺寸(宽x高x深) | 1400 x 1800 x 1200(mm) |
电源规格 | 三相五线AC 380V/50HZ |