产品概述
普赛斯LD集成式老化设备,用于小功率可见光LD TO器件的老化筛选以及可靠性寿命分析,筛选后有效提高TO产品的质量。系统可支持3072路器件的老化,通过给LD器件提供恒定电流来实现对器件的老化,系统可实时显示老化电流、正向电压、背光电流、温度、功率等参数并且图形直观显示,便于用于观察老化过程中的异常情况,通用老化板兼容我司其他自动化设备。
产品应用
可用于批量生产环节中可见光LD TO器件进行老化筛选
长时间可靠性失效测试分析
产品特点
提供每块老化板完全独立的驱动电流
集成式老化箱自带两个独立箱体,可完全独立控制,升温速度效率高,无过冲;支持过温保护
ACC恒流模式和APC恒背光模式可选
老化板作为通用载体,可以实现盘测、老化不同工位直接的转料,提高生产效率;每个TO56插槽旁边安装一个NTC热敏电阻,可实时检测温度
每一块老化板都可配置安装前光检测板,实时监控老化前光功率,并定时测试LIV特性
支持热插拔,可靠的ESD/EOS防护,保证器件老化期间的安全,支持开路和短路保护
支持扫描LIV计算Ith
软件切换支持各种类型封装LD器件的老化,支持TO56固定3脚位切换
产品规格
参 数 | 指 标 |
激光器封装类型 | TO56,支持TO56固定3脚位切换 |
系统规模 | 3072路,2个独立温区 |
LD驱动电流 | 0-150mA,±0.5%rdg±2mA |
LD电压范围 | 0~7V |
LD电压测量 | 0~7V,±0.5%rdg±40mV |
背光电流检测 | 0-2000uA,±0.5%rdg±10uA |
温度检测 | 25~120℃,±1℃@60℃,10KNTC |
前光功率检测 | 10~100mW,±0.5%rdg±0.5mW |
响应波长 | 380-900 nm |
温度范围(仓内温度) | 45~90℃ |
管壳温度测试范围 | 65℃~100℃ |
温控特性 | 温度均匀性:±2℃(无负荷),温度稳定性:±0.5℃ 升温速度:2℃/Min,降温速度:1℃/Min |
电源输入 | 三相五线AC 380V/50HZ |
尺寸(宽x高x深) | 1400 x 1800 x 1200(mm) |