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PSS-COBT2000

普赛斯 COB自动测试系统 PSS COBT2000

品牌名称：普赛斯

产品型号：PSS COBT2000

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产品规格
产品介绍
普赛斯PSS COBT2000系列自动测试系统，适用于VCSEL多模封装光学耦合前后的模块测试需求。设备不仅验证COB模块本身的功能和光学部分的可靠性，还用于VCSEL光芯片的可靠性验证测试。独有的收光装置可覆盖不同功率的测试对象，亦可保证功率测试重复性，支持DDMI、Ith、SE等相关参数测试，设备具备一致性好，高可靠性，高效生产等特点，兼容PSS老化板，可一站式完成SFP、QSFP、QSFP-DD等封装COB老化、测试工序。
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产品资料-普赛斯 PSS COBT2000 COB 自动测试机
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产品详情

产品概述

普赛斯PSS COBT2000系列自动测试系统，适用于VCSEL多模封装光学耦合前后的模块测试需求。设备不仅验证COB模块本身的功能和光学部分的可靠性，还用于VCSEL光芯片的可靠性验证测试。独有的收光装置可覆盖不同功率的测试对象，亦可保证功率测试重复性，支持DDMI、Ith、SE等相关参数测试，设备具备一致性好，高可靠性，高效生产等特点，兼容PSS老化板，可一站式完成SFP、QSFP、QSFP-DD等封装COB老化、测试工序。

 

产品应用

VCSEL光芯片的可靠性验证测试

SFP、QSFP、QSFP-DD等封装的COB老化前后对比测试

 

产品特点

兼容PSS模块老化板，可一站式完成COB老化、测试

模块及协议兼容性强，支持SFP、QSFP、QSFP28封装；100G、200G、400G的测试

大面积PD收光，收光角度模拟分析，保证功率测试重复性   

支持双工位PD同时测试，提升测试效率

支持Ith、SE等参数测试，一致性高，重复性高

支持COB 调试，DDMI信息获取

支持老化前后对比，便于分析芯片可靠性

支持COB固件烧录，方便客户操作

 

产品规格

参 数

指 标

支持模块类型

SFP、QSFP、QSFP-DD等封装（可定制）

老化板测试数量（不同功率数量不一致，可定制）

SFP类型：28PCS
  QSFP类型：12PCS
  QSFPDD类型：3PCS

多路并行测试

支持并行测试

单板电流驱动能力（功率）

100G   SR4 ≤3.5W
  200G SR4/SR8 ≤6W
  400G SR8 ≤12W

兼容协议

SFF8472、SFF8436、CMIS4.0

功率探测范围

0-10mw，1%FS±50uW

测试效率（取决于用户ith扫描时间）

1min/COB,12min/Pannel，UPH:＞60PCS（QSFP）1.5min/COB,4.5min/Pannel，UPH:＞40PCS（QSFP-DD）

测试参数

支持PI曲线，Ibisa、Po、Ith、老化前后∆Ith、老化前后∆Po

VCC电压

范围：3~3.6V，精度：0.1%FS±4mV

一致性

Ith<1%、Power<1%（Ith一致性取决于COB的电流精度）

电源

AC200V～240V,50HZ

尺寸（L*W*H）

820mm*560mm*835mm


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