天瑞 顺序式波长色散X荧光光谱仪 WDX 4000

样品形式

固体

样品尺寸

大51.5   mm  × 40 mm

样品重量

重500g

进样系统

双进样系统，标备除尘过滤器和预抽真空系统；一个样品测量的同时给另一个样品预抽真空，互不干扰

自动进样机

自动机械手进样系统，多可装168个样品

自旋装置

3种自旋速度(低、中、高)

X射线光管

铍窗

50um/75um超薄铍窗，用以保证X射线的高通过率

阳极靶材料

标配铑靶，可选铜靶、钼靶、钨靶，铬靶，铂靶等

工作模式

样品进样时保持工作状态不变

水冷系统

双路水循环系统，电导保持在1uS以下

高压电源

输出方式

1kV和1mA的标准调节单位，通过12位DA进行精细调节

长时间稳定性

0.01%/8   hours

温度稳定性

50   ppm/C(20 ppm/C可选)

数据

功率

4kW

KV/mA范围

电压20-60KV，电流10-140mA；大电压75kV，电流160mA可选

测角仪

工作模式

创新型钢带传动系统，无摩擦，无回程间隙，带有圆光栅反馈，θ/2θ两轴独立运动

大转角速度

6000    2θ/min

测角精度

0.0006°   θ / 2θ

测角重复性

0.0002°   θ / 2θ

步进角度

小   0.0001°，大1°

角度扫描范围

流气比例计数器:12° to 150°@2θ

闪烁计数器

0°   to 120°@2θ

光路

准直器面罩

单面罩，(其他尺寸27， 32 or   50mm可选)

主准直器

多可装3个: 100， 150， 300， 550， 700 or   4000 um， 可选

主滤光片

多4片: Pb，Al，Cu等元素可选

晶体

多10个: LiF420，LiF220，LiF200，Ge111，PE002，InSb， TIAP，以及用于轻元素测量的各种人工多层膜晶体

探测器

流气比例计数器 (FPC)， 可配0.3um厚的窗膜

闪烁计数器 (SC)

光室真空度

<15Pa

信号处理

数字多道分析仪

12位，80M/s采样速度，4096道分析能力，采用FPGA框架以及可靠的DSP算法用于信号和噪声分离

大计数率

流气比例计数器:3Mcps

闪烁计数器

1.5Mcps

脉冲漂移和增益校正

自动

时间校正

自动可以根据需要设定任意位置样品优先测量(软件设置或感应位设置)

最大电流≥160mA , 5-160 mA间1 mA连续可调

最大电流≥160mA , 5-160 mA间1 mA连续可调

稳定性

外电源波动±1%时，输出波动为≤±0.00005%

最高设计功率≥4.2kW ，最高设计电压≥75kV，最高设计电流≥200mA

最高设计功率≥4.2kW ，最高设计电压≥75kV，最高设计电流≥200mA

角度准确度

≤   0.001°