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7750系列
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7750系列

台湾益和 线圈层间短路测试仪 7750系列

品牌名称:台湾益和

产品型号:7750-5E/7750-5H/7750-5S/7750-1S/7750-10S

产品规格
产品介绍
最小电感值≥0.1μH
电压补偿功能
高速脉衝取样率200MHz/9bits
崩溃电压测试
稳定极速测试:10次/秒
可程式非破坏性脉衝电压测试
仪器内建可储存128组测试波形
USB Host快速存取测试画面
五种波形比对,检测绕线元件层间短路不良
渠道商
产品详情

7750系列 线圈层间短路测试仪 
全新一代彩色显示屏幕速度更快的MICROTEST 7750线圈层间短路测试仪,提供1200V/5200V/10000V脉衝电压输出,200MHz/9bits高速取样技术提供多种比对模式,包含总面积比对、面积差比对、电晕数比对、颤抖数比对、二阶微分比对与波形比对模式,测试速度高达10次/秒,上自动线是最佳的选择。针对小感量可选型7750-1层间短路测试仪搭载FX-IM0001四线式SMD元件测试治具,支援电压补偿功能,避免配线引起的等效电感引起测试电压误差过大,为小电感产品把关品质。

产品性能特点

最小电感值≥0.1μH

电压补偿功能

高速脉衝取样率200MHz/9bits

崩溃电压测试

稳定极速测试:10次/秒

可程式非破坏性脉衝电压测试

仪器内建可储存128组测试波形

USB Host快速存取测试画面

五种波形比对,检测绕线元件层间短路不良

型号选型表

Model

7750-5E

7750-5H

7750-5S

7750-1S

7750-10S

波形采样率

50MHz

100MHz

200MHz

脉冲电压输出

100V-5200V

100V-5200V

100V-5200V

10V-1200V

200V-10000V

量测最小电感量

1μH

0.1μH

20μH

量测时间

10/

崩溃电压-BDV

-

-

支持LAN接口

-

-

波形分析

总面积比对

面积差比对

二阶微分比对

-

电晕数比对

颤抖数比对

波形比对

 

技术参数

型号

7750

量测速度

10次/秒

施加脉冲数

最大32

波形采样

200MHz/9 bit

输入阻抗

20MΩ

崩溃电压测试

统计功能

支持量测统计功能

波形比对模式

总面积比对 AREA

将谐振波所涵盖之所有面积加总称之为「总面积」

进行待测线圈波形面积比对,当待测物发生层间短路时,由于线圈能量损耗增加,谐振阻尼系数变大,谐振振幅会变小,总面积跟着变小,
是检查层间短路最基本的参数。
以%表示,判定能量损耗差异性。

面积差比对 DIFF

将标准波与待测波之相异处加总则称为「面积差」

当待测物发生匝间短路时,电感变小(类似变压器次极圈短路时,初极圈电感会变小),
造成后段波形振荡频率发生变化,
谐振波形相位改变,面积差随之改变。
藉此比较电感量的差异性。

二阶微分 LAPLACIAN

线圈绝缘质量不良在高压冲击下产生放电,
引起振荡波形快速变化,透过7750 二阶微分演算方式进行比对。

用于检测焊接不良导致绝缘性能降低的质量问题。

电晕数比对 CORANA

绕组线圈于高压脉冲测试中,自身绝缘系统损坏而产生尖端放电,
透过波形显示放电曲线中出现电晕的现象,此功能可统计电晕发生的次数根据其偏差程度进行判定。

检测线圈内部绝缘质量是否有放电现象。

波形比对 COMP

将标准波设定一可容许之波形范围,此项目可同时判断谐
  振波的振幅及相位,可加大匝间短路的检出能力。

颤抖数比对 FLUT

当绕组线圈有发生匝间放电的现象时,波形将产生颤抖,
  因此仪器将波形颤抖程度量化成数值进行比对。


Remote输入信号

START/STOP

Remote输出信号

PASS/FAIL/TEST/READ/HV ON

安全开关

设置INTER LOCK功能,测试时需将安全开关进行短路,
机台方能输出脉冲电压

内建存储

128

电源

电压:100Vac-240Vac

频率:47-63Hz

消耗功率

45VA

操作环境

温度:0℃-40℃

湿度:20-80%RH

外观尺寸

430x132x370 mm (W*H*D)

重量

7Kg

界面

USB Host/Device、RS-232、Remote、LAN

GPIB选配

液晶屏幕

7吋TFT 彩色显示(800*480)


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