产品描述
DIL 803/803L为卧式热膨胀仪,可提供双样品同时测试,极大的提高了测试效率。对于动态温度程序,DIL 803/803Lhaikeyi通过使用参比物进行差分式测量,减小测量系统自身热膨胀的影响,提高测试精度。DIL 803专为在真空或惰性气体环境中测试而设计,DIL 803L是研究陶瓷样品的理想工具。
技术参数
DIL 803 | DIL 803L | |
样品长度 | 0 至 50 mm | 0 至 50 mm |
样品直径: | 删除/广泛 7 mm 或 10 mm | 删除/广泛 7 mm 或 10 mm |
样品支架: | 石英、氧化铝、蓝宝石、石墨、钨 | 石英、氧化铝 |
位移变化: | 4 mm | 4 mm |
位移分辨率: | 10 nm | 20 nm |
温度分辨率: | 0.05 ℃ | 0.1 ℃ |
α 精度: | 0.03 × 10-6 K-1 | 0.05 × 10-6 K-1 |
气氛: | 真空、惰性气体、空气 | 空气 |
操作模式: | 水平 | 水平 |
温度范围: | -160 ℃ 至 1650℃,根据加热炉类型 | 类型 -160 ℃ 至 1650℃,根据加热炉类型 |
接触力: | 0.02 至 1 N,可调 | 0.02 至 1 N,可调 |
测量原理
卧式炉体构造保证了优异的温度均匀性,并排除了对流的影响。采用了高分辨率LVDT,达到高灵敏度的位移测量,保证了即使是 小的热膨胀,也可以容易而准确的检测到。DIL 803/803/的测试头有良好的热稳定性,对震动不敏感。
DIL 803/803L可同时进行双样品测试,因而提高了测试效率。另外,将其中一个样品位置替换为参比样品,DIL 803/803L就可以作为差分式膨胀仪测试,该标样可补偿系统自身热膨胀效应,从而提高绝对测量精度。
测量实例
上图数据显示出了双样品测量优势的实例。这个实例主要测量的是陶瓷体表面釉的热膨胀。釉作为薄膜材料不能自支撑,因此只能在陶瓷体表面进行测量。为消除陶瓷基体对测量的影响,同时测量了上釉部分与未上釉的陶瓷部分。从总测量结果中扣除未上釉的陶瓷部分的热膨胀,从而得到对釉尺寸变化的精确量化。
温度范围
DIL 803具有 广泛的炉体配置,温度覆盖-160到2300℃。DIL 803L的炉体温度范围是-160℃到1720℃。可以很容易地对这些加热炉进行更换,并且在同一台仪器上可使用多个加热炉。通过选择感兴趣的温度范围内相应类型的热电偶或者高温温度计来进行准确的温度测量。为确保温度测量准确,将热电偶置于接近并具有代表性的位置。在任何情况下,都必须避免与金属接触,因为这可能导致合金化和固态扩散情况发生。
测量系统
多种材料可用于惰性测量系统,样品套管、支架以及顶杆可以很轻易的交换,以满足实际测试的需要。为了防止与样品发生反应,多种测试系统可选,包括熔融石英、氧化铝、蓝宝石、石墨及钨等材质。另外还提供各种具有证书的标样,用以校正或验证仪器性能。