CXT2661 手持四探针方块电阻测试仪
CXT2661型四探针方块电阻测试仪，同时也是电阻率测试仪、电导率测试仪.本仪器是一款低功耗手持式仪器，适用于片状或块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻率测试、太阳能等材料的测试，配置不同的测试探头，可以测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等材料的电阻率/方块电阻，也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻、开关接触电阻等。
适用范围
仪器可根据客户需要配置不同的测试探头，测量半导体材料、柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、太阳能材料、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等材料的电阻率/方阻，也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻、开关接触电阻等。 本仪器采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！
仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校等研究生产单位对导体、半导体材料、类半导体材料、器件的导电性能的测试，满足对材料(棒材、片材等)和导电薄膜方块电阻测量的需要。
产品描述
电阻测试范围:1mΩ-100KΩ;方阻测试范围: 1mΩ/□-100KΩ/□; 电阻率测试范围取决于电阻测试范围及被测件尺寸;手持大容量电池方便携带
产品性能特点
最高电阻精度：0.1 %；电阻最小分辨：1mΩ
最高方阻精度：5%；电阻最小分辨：1mΩ
被测件厚度可预设,电阻率测试无需查表
零底数设计，微弱电阻测试无需清零
多种探头可选,应对各种特性材料的方阻电阻率测试
3档比较功能: 合格/超上限/超下限
电阻/方阻/电阻率可切换显示
符合GBT 1551-2009及GBT 1552-1995
6000mAh大容量电池,持久续航
适用于测量半导体、导电薄膜、金属/纳米涂层、太阳能材料、陶瓷等，也可直接测量电阻器
技术参数
CXT2663 四探针方块电阻测试仪
CXT2663系列四探针方块电阻测试仪是运用四探针测量原理的多用途宽量程综合测量设备, 同时也是电阻率测试仪、电导率测试仪.该仪器是按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，可用于测试半导体及其他各种材料电阻率及方块电阻的专用仪器。仪器运用双电测原理，进行多次测量，自动消减样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测相比，大大提高测量精度和一致性。
仪器选配 U盘数据记录接口，可方便的进行测试数据的记录；标配USB接口和RS232接口可与电脑相连接；电脑配套操作软件可以方便直观的直接对仪器进行全功能操作、并记录数据,方便对材料进行电气分析。仪器测量精度高、稳定性好、智能化程度高、操作简单、测试结果显示直观，广泛运用于半导体材料厂、科研单位、高等院校等对各种半导体、类半导体材料、导体材料及各种新材料的导电性能的测试。
适用范围
适用于片状或块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层、太阳能等材料的测试.配置不同的测试探头，可以测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层材料的电阻率/方阻.也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻.
产品描述
电阻测试范围:100uΩ-100KΩ;方阻测试范围: 100uΩ/□-100KΩ/□; 电阻率测试范围取决于电阻测试范围及被测件尺寸.
产品性能特点
最高方阻精度：3 %；方阻最小分辨：100uΩ
最高电阻精度：0.05 %；电阻最小分辨：100uΩ
温度补偿功能（TC）；温度基本精度: 0.1 ℃
被测件厚度可预设,电阻率测试无需查表
零底数设计，微弱电阻测试无需清零
多种探头可选,测量各种特性材料的方阻电阻率
3档比较功能: 合格/超上限/超下限
电阻/方阻、电阻率、电导率同步测试
HANDLER/USB/RS232/RS485接口远程控制
U盘记录测试数据，并可远程升级仪器软件
符合GBT 1551-2009及GBT 1552-1995
适用于测量半导体、导电薄膜、金属/纳米涂层、太阳能材料、陶瓷等，也可直接测量电阻器
技术参数
CXT2665四探针方块电阻测试仪
CXT2665系列四探针方块电阻测试仪是运用四探针测量原理的多用途宽量程综合测量设备, 同时也是电阻率测试仪、电导率测试仪.该仪器是按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，可用于测试半导体及其他各种材料电阻率及方块电阻的专用仪器。仪器运用双电测原理，进行多次测量，自动消减样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测相比，大大提高测量精度和一致性。
仪器选配 U盘数据记录接口，可方便的进行测试数据的记录；标配USB接口和RS232接口可与电脑相连接；电脑配套操作软件可以方便直观的直接对仪器进行全功能操作、并记录数据,方便对材料进行电气分析。仪器测量精度高、稳定性好、智能化程度高、操作简单、测试结果显示直观，广泛运用于半导体材料厂、科研单位、高等院校等对各种半导体、类半导体材料、导体材料及各种新材料的导电性能的测试。
适用范围
适用于片状或块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层、太阳能等材料的测试.配置不同的测试探头，可以测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层材料的电阻率/方阻.也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻.
产品描述
电阻测试范围:10uΩ-1MΩ;方阻测试范围: 10uΩ/□-1MΩ/□; 电阻率测试范围取决于电阻测试范围及被测件尺寸.
产品性能特点
最高电阻精度：0.05%；电阻最小分辨：10uΩ
最高方阻精度：3 %；方阻最小分辨：10uΩ
温度补偿功能（TC）；温度基本精度: 0.1 ℃
零底数设计，微弱电阻测试无需清零
被测件厚度可预设,电阻率测试无需查表
双电测模式,修正探针游移与样品边际效应
电阻/方阻、电阻率、电导率、温度、湿度同步测试
HANDLER/USB/RS232/RS485接口远程控制
多种探头可选,测量各种特性材料的方阻电阻率
U盘记录测试数据，并可远程升级仪器软件
符合GBT 1551-2009及GBT 1552-1995
适用于测量半导体、导电薄膜、金属/纳米涂层、太阳能材料、陶瓷等，也可直接测量电阻器
技术参数
CXT2668 宽量程四探针方块电阻测试仪
CXT2668系列四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途宽量程综合测量设备, 同时也是电阻率测试仪、电导率测试仪.该仪器是按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，可用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻及其它各种材料)的专用仪器。仪器运用双电测原理，进行多次测量，自动消减样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测相比，大大提高测量精度和一致性。
仪器选配 U盘数据记录接口，可方便的进行测试数据的记录；标配USB接口和RS232接口可与电脑相连接；电脑配套操作软件可以方便直观的直接对仪器进行全功能操作、并记录数据,方便对材料进行电气分析。仪器测量精度高、稳定性好、智能化程度高、操作简单、测试结果显示直观，广泛运用于半导体材料厂、科研单位、高等院校等对各种半导体、类半导体材料、导体材料及各种新材料的导电性能的测试。
适用范围
适用于片状或块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层、太阳能等材料的测试.配置不同的测试探头，可以测量柔性材料导电薄膜、金属涂层或陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层材料的电阻率/方阻.也可使用电阻测试夹具直接测量电阻器电阻.
产品描述
电阻测试范围:1uΩ-100MΩ;方阻测试范围: 1uΩ/□-100MΩ/□; 电阻率测试范围取决于电阻测试范围及被测件尺寸.
产品性能特点
最高电阻精度：0.05 %；电阻最小分辨：1uΩ
最高方阻精度：3 %；方阻最小分辨：1uΩ
温度补偿功能（TC）；温度基本精度: 0.1 ℃
零底数设计，微弱电阻测试无需清零
被测件厚度可预设,电阻率测试无需查表
双电测模式,修正探针游移与样品边际效应
电阻/方阻、电阻率、电导率、温湿度同步测试
HANDLER/USB/RS232/RS485接口远程控制
U盘记录测试数据，并可远程升级仪器软件
符合GBT 1551-2009及GBT 1552-1995
适用于测量半导体、导电薄膜、金属/纳米涂层、太阳能材料、陶瓷、半绝缘材料及各种新材料等
技术参数
