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Xradia 520 Versa

卡尔蔡司 X射线显微镜 Xradia 520 Versa

品牌名称:卡尔蔡司

产品型号:Xradia 520 Versa

产品规格
产品介绍
使用蔡司Xradia 520拓展您的探索极限
作为Xradia Versa产品系列中前沿的产品,蔡司Xradia 520 Versa在您的科学探索和工业研究中展示了它多样化的应用。该系统可使用X射线实现无损3D成像。该产品基于业界前沿的高分辨率和衬度成像技术,拓展了无损成像的应用局限。创新的成像衬度和图像采集技术让你自由地定位并发现您前所未见过的信息。
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产品详情

Xradia 520 Versa X射线显微镜 

使用蔡司Xradia 520拓展您的探索极限

作为Xradia Versa产品系列中前沿的产品,蔡司Xradia 520 Versa在您的科学探索和工业研究中展示了它多样化的应用。该系统可使用X射线实现无损3D成像。该产品基于业界前沿的高分辨率和衬度成像技术,拓展了无损成像的应用局限。创新的成像衬度和图像采集技术让你自由地定位并发现您前所未见过的信息。

产品优势

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X射线光学背后的技术

被称为“大工作距离下的高分辨率”的RaaD技术使您得以在大工作距离下获得亚微米的分辨率。Xradia Versa设计架构采用两级放大:首先,如同在传统的micro-CT一样,图像被进行几何放大。投射的图像映射在闪烁器上,将X射线转换为可见光。随后,光学透镜会在您的图像到达探测器前对其进行放大。您可以在您的系统中选配FPX(平板探测器)来进一步提升它的多功能性。这样的探测器设计的组合能够帮助您高效、准确地研究不同大小、不同类型的样本。

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产品性能特点

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双能扫描衬度可视化系统(DSCoVer)

使用DSCoVer系统,您可以利用对X射线对材料中起不同作用的原子序数和密度信息共同作用得到新的结果。这样可对那些正常单一扫描中无法确认的特征实现探测和识别。例如,它能够识别例如岩石内的矿物差异性、区分难以辨识的材料如硅和铝的差异。这样就可以通过调整从两组不同断层扫描结果中获取有价值的信息。使用DSCoVer研究人员能够快速便捷地收集双能量分析所需的数据并进行分析。

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高纵横比断层扫描(HART)

Xradia 520 Versa中创新的高纵横比断层扫描(HART)技术为半导体封装样品和电路板等板状样品提供高达2倍的图像采集速度或更好的图像质量。HART可进行可变投影间隔的数据采集,沿扁平样品的宽边侧采集较少的投影数,而沿样品薄侧则采集更多的投影数。与排列稀疏的短视图相比,紧密排列的长视图能够为3D数据重构提供更加丰富的信息。

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自动滤光片转换器(AFC)

现在,对挑战性样品进行成像变得更加容易。使用自动滤光片转换器AFC是对 DSCoVer 技术和原位工作流的一个重要补充和辅助,它可以使DSCoVer和原位试验工作流程变得更加灵活。AFC 包含了 12 个标准系列滤光片,同样也可为根据用户新的应用预留了12个空位。通过测试规程中轻松选择并记录您选择的滤光片,这样在不中断工作的情况下就可以完成滤光片切换。

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宽视场模式(Wide Field Mode, WFM)和垂直拼接技术(Vertical Stitching)

对于大尺寸样品,使用宽视场模式(WFM)在一个单独的断层扫描中即可实现可拓展的横向视场或者标准视场扫描下取得的更高非分辨率。在对大样品成像时,利用标准视场近两倍的横向视场,可获得3倍以上的三维体积数据。而利用标准视场时,WFM 可获得近两倍的体素。将 WFM 和纵向拼图技术结合,可获得比利用标准视场时更宽和更高的成像。


附件


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软件

Dragonfly Pro - 三维图像可视化和定量分析的强大工具

Xradia 520 Versa 的所有功能都与Scout-and-Scan控制系统无缝整合在一起。该系统可提供一个高效的工作环境,让您能够很容易的定位到感兴趣区域和选择扫描参数。这种易用的系统尤其适合研究人员水平各不相同的中心实验室。界面保持了Xradia Versa 系统一贯的灵活性,让您的扫描设置更加容易。Scout-and-Scan 软件还提供了基于可复用测试规程的解决方案,这对于原位和 4D 研究特别有用,让您在未来的工作里有更好的操控性和更高效率。

 

版本11的新特性: 

自动垂直拼接技术为大样品成像设立了新的行业标准。结合宽视场模式和垂直拼接技术在断层扫描中获得大尺寸无缝图像,大大扩展了您在观察大样品时的视野。

新的自动背景参照功能为您提供Z+和Z-方向的移动能力,加上现有的X和Y方向,很适合高纵横比成像,如PC电路板。

在断层扫描过程中样品可能发生漂移,如软性样品。自适位移补偿AMC是一种弥补样品漂移的新方法。

新的Scout-and-Scan重构软件配合灵活的自动重建软件对数据重建能提供更好的灵活性。

加强型直方图利用一体化调色板和对数标尺提供更好的数据可视化体验。

Xradia 520 Versa 的双能扫描衬度可视化系统 DSCoVer 搭配了双能界面,提供了对不同材料类型,或是相似密度的不同材料的准确分割。

可视化及分析软件

蔡司推荐您使用Object Research Systems (ORS) 的 Dragonfly Pro

此解决方案可为X射线,FIB-SEM,SEM以及氦离子显微镜获取的三维数据进行可视化三维重构和分析。

基于Visual SI Advanced系列, Dragonfly Pro 能提供高清解析度可视化技术和优异的图形处理技术。Dragonfly Pro支持通过简单易用的Python脚本进行定制。用户可以完全掌控3D数据后期处理环境和流程

产品应用

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