卡尔蔡司集场发射扫描电子显微镜 Sigma 系列-宜器服务网

产品详情

Sigma 系列集场发射扫描电子显微镜

蔡司Sigma系列产品集场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）技术与良好的用户体验于一体，助您轻松实现构建成像和分析程序，同时提高工作效率。您可以将其用于新材料和颗粒的质量监测，或研究生物和地质样本。Sigma可实现高分辨率成像，它采用低电压，能在1 kV或更低电压下实现更高的分辨率和对比度。它出色的EDS几何学设计可执行高级显微分析，以两倍的速度和更高的精度获取分析数据。

使用Sigma系列，畅游高端纳米分析世界。

Sigma 360是一款直观的成像和分析FE-SEM，是分析测试平台的理想之选。

Sigma 560采用先进的EDS几何学设计，可提供高通量分析，实现自动原位实验。

产品优势

Sigma 360

分析测试平台的理想之选，直观的图像采集

从设置到获取基于人工智能的结果，均提供专业向导，为您保驾护航，助您探索直观成像工作流。
可在1 kV和更低电压下分辨差异，实现更高的分辨率和对比度。
可在极端条件下执行可变压力成像，获得出色的非导体成像结果。

Sigma 360-3.png

Sigma 360-4.png
Sigma 360-5.png

Sigma 560

高通量分析，原位实验自动化

对实体样品进行高效分析：基于SEM的高速和通用分析。
实现原位实验自动化：无人值守测试的全集成实验室。
可在低于1 kV的条件下完成要求苛刻的样品成像：采集完整的样品信息。

Sigma 560-2.png

Sigma 560-3.png

Sigma 560-4.png

产品技术

Sigma 560-5.png

Gemini 1电子光学系统

Gemini 1电子光学系统由三个元件组成：物镜、电子束推进器和Inlens探测器。其中，物镜的设计将静电场与磁场相结合，大大优化光学性能的同时，降低了样品受到的磁场影响。

如此也可实现对磁性材料等具有挑战性的样品的高品质成像。Inlens探测原理通过对二次电子（SE）和/或背散射电子（BSE）的探测来确保高效的信号检测，同时大幅缩短获取图像的时间。

电子束推进器保证了小尺寸的电子束斑和高信噪比。

以灵活的探测获取清晰图像

Sigma配备了一系列不同的探测器，通过新探测技术对您的样品进行表征。

使用ETSE和Inlens探测器的高真空模式可获取表面形貌的高分辨率信息。

使用VPSE或C2D探测器的可变压力模式可获得清晰图像。

使用aSTEM探测器可进行高分辨率透射电子成像。

采用不同的可选BSE探测器，如aBSD探测器，可以深入研究样品的成分和表面形貌。

NanoVP lite模式

采用NanoVP lite模式进行分析和成像，在低电压条件下可获得更高的图像质量，更快速地获取更准确的分析数据。

在NanoVP lite模式下，裙边效应降低且电子束的气体路径长度（BGPL）减小。裙边减小会提高SE和BSE成像的信噪比。

带有五象限的可伸缩式的环形aBSD可提供出色的材料成分衬度：在NanoVP lite工作过程中，该探测器配备了安装在极靴下方的束流套管，其可提供低电压下的高通量高衬度成分和表面形貌成像，适用于可变压力和高真空条件。

应用

材料科学

Sigma 560-8.png

Sigma 560-9.png

生命科学

Sigma 560-10.png

Sigma 560-11.png

地球科学与自然资源

Sigma 560-13.png

Sigma 560-14.png

工业应用

Sigma 560-15.png

配件

将材料性能与蔡司FE-SEM原位实验室获取的微观结构相关联

集成解决方案的优势

如果您需要将材料性能与微观结构建立关联，蔡司可为您提供一个自动化的原位加热和拉伸实验室。在实验中可自动观察材料在加热和拉伸时的情况，并实时绘制应力应变曲线。您可以借助这项用于加热和拉伸实验的原位解决方案来扩展蔡司FE-SEM的功能，对金属、合金、聚合物、塑料、复合材料以及陶瓷等材料进行深入研究。

将力学拉伸或压缩样品台、加热模块、专用高温SE和BSE探测器与EDS或EBSD（电子背散射衍射）分析相结合。蔡司Gemini电子光学镜筒的设计让原位硬件的集成变得非常简单。所有系统组件均通过安装于个人电脑上的统一软件控制，可实现无人值守的自动化材料测试。自动特征追踪功能可同时监控多个感兴趣区域，从而为您提供更高标准的自动连续成像和分析（如EDS或EBSD面分布）。

Sigma 560-17.png

尽享以下优势：

实验设置简单快速，图像采集过程中无需监测系统

自动化的原位工作流程可实现具有高重复性、高精度和无需操作人员的可靠数据采集

高分辨率的高通量数据采集，快速获取在统计意义上具有代表性的结果

将高质量的数据用于可靠的后期处理，如可使用GOM开发的数字图像相关（DIC）软件进行应变分布计算

轻松的数据管理

Sigma 560-18.png

软件

卡尔蔡司 集场发射扫描电子显微镜 Sigma 系列

卡尔蔡司集场发射扫描电子显微镜 Sigma 系列