台湾chroma 光伏电池片与硅片自动化检测系统 7200 Series-宜器服务网

产品详情

7200 Series 光伏电池片与硅片自动化检测系统

在众多可以帮助光伏产业迈向"市电同价"的重要因素之中，光伏组件的可靠度是一个非常重要的关键因素。有些光伏组件安装初期的失效原因常常来自于在光伏电池片阶段的外观不良，例如边缘缺角，表层剥落，或者是铝凸等。而这些瑕疵也就变成光伏电池片制造商在质量把关时候的一个非常重要的课题。因此，对于光伏模块的质量以及可靠度来讲，硅片以及电池片的瑕疵检验就显得相当重要。另外由于越来越多"光电建筑一体化"的应用以及"家用屋顶安装"的应用，即使是像水痕或者脏污等那些对于可靠度没有造成直接影响的瑕疵，对于买家而言也会变成是

有视觉瑕疵的次级品。而传统上来讲，所有的瑕疵都是轮班人员用目检筛选出来的。但是由于人眼容易疲劳且检测标准不一致，所以在生产在线使用自动化光学检测仪器(AOI)来取代轮班人

员检测，是一个越来越受重视的外观检测替代方案。Chroma 7200系列就是为了可以检测所有产在线生产的硅片以及电池片的瑕疵所设计的。Chroma 7200可以检测5"以及6"的尺寸，而且可以检测单晶，多晶甚至是准单晶的成品。根据不同的生产制程，总共有8种不同功能的AOI机器可供搭配成"硅片进料"检验或者是"丝网印刷"检验甚至是"电池片出货"检验等不同用途。

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产品性能特点

可与不同自动化线体厂商进行整合
高扩充性的算法编辑器，可以针对5”以及6”的单晶、多晶、类单晶等结构进行检测
多样化接口可与其他设备或者工厂管理系统(MES)做结合
可检测钻石线切割的硅晶圆
自动光源监控以及校正设计

技术参数

Model	7210	7213-AD		7214-D	7212-HS/C8		7212-HS/M12
Camera	25M mono CCD	4M mono CCD		4M mono CCD	8K linescan		12K linescan
Resolution	33um/pixel	90um/pixel		90um/pixel	20um/pixel		15um/pixel
Application	Frontside defect and color inspection	Backside defect inspection		Anti-reflection coating inspection	Frontside defect inspection
Speed	NA	NA		NA	350mm/s		500mm/s
Dimension	320mm x 324mm x 1032mm				340mm x 380mm x 760mm
Weight	60 kg				70 kg
Accessory	External Keyboard, Mouse, PC, Monitor
Interface	Ethernet/IO
Model	7201		7202			7231
Description	Solar wafer geometry & surface inspector		Solar wafer quality inspector			Solar wafer sawmark inspector
Wafer size	5' or 6'wafers, for mono c-Si, multi c-Si and quasi mono c-Si
Detection limit	80μm		80μm			5μm
Speed	NA*3		350mm/s			350mm/s
Inspection items	Length, Width, Diagonal, Chamfer length, Pinhole, Stain, Chipping, Grain-size, Sawmark, backside
UPH*2	3000~3600
Interface	TCP/IP Option: IO,RS-232
Options	RAID, UPS, MES,