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台湾chroma 光伏硅片外观暨表面脏污检测机 7201/7202/7231

品牌名称:台湾Chroma

产品型号:7201/7202/7231

产品规格
产品介绍
可整合到任何硅晶圆分选机上
可调整式的算法可供检测5”、6"以及单晶、多晶、类单晶等各种硅晶圆
多样化接口选择可与不同设备或者MES系统联机
检测晶格尺寸的特殊光源设计
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产品详情

7201 光伏硅片外观暨表面脏污检测机 

chroma 7201可用来检测硅片长度、宽度、对角线、边缘夹角、导角尺寸以及导角角度等,同时也可以检测表面瑕疵。设计完善的软体以及操作介面可供使用者设定不同的检测参数来达到检测结果,同时也提供瑕疵显示以及储存功能来留待日后进行MES/CM的分析以及整合。

产品性能特点

  • 可整合到任何硅片分选机上

  • 可调整式的演算法可供检测5”、6以及单晶、多晶、准单晶等各种硅片

  • 多样化介面选择可与不同设备或者MES系统连线

  • 可进行金刚线切割硅片的检测

    白我监测以及校正系统


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光伏硅片品质检测机 7202

为了提供最高重复性的晶格尺寸检测结果,chroma 在7202上头使用了独特的光学设计来强化晶格特征。而当晶格尺寸可以被量化之后,分类好的硅片就可以套用于不同的生产工艺,拿来在不同的电池片生产线进行生产,藉以提高电池片生产时候的平均转换效率。

7202同时也可以检测孔洞瑕疵。而孔洞瑕疵正是造成光伏模组失效的μ-cracki或者严重local shunting的原因。

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  • 可整合到任何硅晶圆分选机上

  • 可调整式的算法可供检测5”、6"以及单晶、多晶、类单晶等各种硅晶圆

  • 多样化接口选择可与不同设备或者MES系统联机

  • 检测晶格尺寸的特殊光源设计


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7231 光伏硅片线锯痕检测机 

切割饯锯痕是由于切割时候的杂质影响或者是切割线振动所造成的。有时候发生在边缘而也有可能发生在硅片中间的位置。由于chroma使用EN 50513 2009的检测手法来进行光学设计,所以即使是发生在硅片中央位置的切割线锯痕,也可以正确检测无误。


产品性能特点

  • 可整合到任何硅片分选机上

  • 可调整式的演算法可供检测5”、6"以及单晶、多晶、准单晶等各种硅片

  • 多样化介面选择可与不同设备或者MES系统连线

  • 遵守EN 50513 2009来进行硅片线锯痕检测


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