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58625

台湾chroma 光电元件模组多功能测试系统 58625

品牌名称:台湾Chroma

产品型号:58625

产品规格
产品介绍
多合一整合型测试机
可弹性安排多种测试站
具精准之温度平台控制能力
温控范围可达-20~85℃
光学模块可支持大角度之发光角量测
实现奈秒级高速测试 ( 选配)
渠道商
产品详情

58625 光电元件模组多功能测试系统 

Chroma 58625 为3D 感测发光模块之特性测试设备,可结合各种不同光学模块于同一自动化平台,精准控制温度并完成所有测试。依不同光学模块之安排,其测试内容涵盖电性、光能量、波长、近场光学、远场光学等各种光电特性参数,非常适合3D 感测发光组件之产品开发与产品质量出入料检验 。

 

光能量与波长量测(LIV+λ)

搭配高性能积分球与高分辨率光谱仪可应用于量测3D 感测发光模块之光能量与波长特性,Chroma 58625 并提供弹性化设计,用户可依不同之测试需求自定义测试情境,透过光能量 (Light Power)、电流 (Current)、电压 (Voltage) 的扫描测试,可推算出各种光电参数如阀值电流(Ith)、光电转换效率(PCE)、斜率效率(SE)。

 

远场光学量测 (Far Field Test)

于3D 感测发光模块的远场光学量测应用上,Chroma 58625 以屏幕投影式技术, 可量测高达120 度发散角之3D 感测发光模块, 利用Chroma 开发之独特算法,分析远场光型,获得发散角、均匀性(beam uniformity) 与IEC 60825 人眼安全规范 Class 1 的自动判断。另外,Chroma 58625 亦可搭配beam profiler,提供更高分辨率之测试需求。

 

近场光学量测 (Near Field Test)

近场光学量测主要应用于3D 感测模块中发光芯片(Laser Diodes) 之近场光学量测, 搭配高性能之显微镜模块与自动寻光平台, 可量测激光半导体(Laser Diodes) 之光腰宽(Beam waist W0)、发散角(divergence angle)、射束品质 (beam propagation ratio M2); 另外, 应用于多光源雷射 (Laser array) 时, 透过Chroma 独特的影像分析技术可获得雷射光强度均匀性(uniformity) 之信息。

产品性能特点

  • 多合一整合型测试机

  • 可弹性安排多种测试站 

  • 具精准之温度平台控制能力 

  • 温控范围可达-20~85℃ 

  • 光学模块可支持大角度之发光角量测

  • 实现奈秒级高速测试 ( 选配)


应用范围

  • 3D 感测发光模块与芯片特性测试

  • 车用Lidar 发光模块与芯片特性测试

  • 各种激光 (Laser) 产品之特性测试


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技术参数

Model

58625

Max. Supported Test Stations

4

Temperature Control of Test Station

Standard: 25~85 ; Option: -20~85

Temperature Accuracy

± 0.3 *1

Temperature Stability

± 0.1 *2

Clean Room Class

10,000

Current Accuracy

0.2% F.S.

SMU Specification

Number of SMUs (25W max. each)

2 channels (additional channels optional)

Driving Mode

CW and Pulse

Pulse Mode

6A, 5V, 100us Pulse width, 10%

CW Mode

Max. 3.5A/5V

Current Range

±6A/±3.5A/±2.5A/±1A/±100mA/±10mA/±1mA/±100µA/±10µA/±1µA

Voltage Range

±25V/±12.5V/±10V/±5V/±2V/±1V/±500mV/±200mV/±100mV

LIV+λ Measurement

Test Parameters

Optical power (w), Forward voltage   (v), PCE(%), SE,λp and λc (nm)

Integrating Sphere Cover Angle

120˚ *2

Optical Power Measurement Range

1mW~10W *2 *3

Wavelength Range

800~1,000nm

Wavelength Optical Resolution

0.25nm

FFP Test (Projection)

Test Parameters *4

FOI uniformity, divergence angle

Coverage Angle

120˚

Optical Power Measurement Range

100mW~10W *5

NFP Test (Laser Diode)

Test Parameters *4

Standard: Relativity, Intensity,   Uniformity, Dead emitters Option: W0, M2, Divergence angle

Optical Module *6

ND filters, NA 0.3@940nm (manual selection)

Effective FOV

1.6x1.2mm (emitter size 1.4x1mm)

Optical Power Measurement Range

10mW~10W (940mn)


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