58625 光电元件模组多功能测试系统
Chroma 58625 为3D 感测发光模块之特性测试设备,可结合各种不同光学模块于同一自动化平台,精准控制温度并完成所有测试。依不同光学模块之安排,其测试内容涵盖电性、光能量、波长、近场光学、远场光学等各种光电特性参数,非常适合3D 感测发光组件之产品开发与产品质量出入料检验 。
光能量与波长量测(LIV+λ)
搭配高性能积分球与高分辨率光谱仪可应用于量测3D 感测发光模块之光能量与波长特性,Chroma 58625 并提供弹性化设计,用户可依不同之测试需求自定义测试情境,透过光能量 (Light Power)、电流 (Current)、电压 (Voltage) 的扫描测试,可推算出各种光电参数如阀值电流(Ith)、光电转换效率(PCE)、斜率效率(SE)。
远场光学量测 (Far Field Test)
于3D 感测发光模块的远场光学量测应用上,Chroma 58625 以屏幕投影式技术, 可量测高达120 度发散角之3D 感测发光模块, 利用Chroma 开发之独特算法,分析远场光型,获得发散角、均匀性(beam uniformity) 与IEC 60825 人眼安全规范 Class 1 的自动判断。另外,Chroma 58625 亦可搭配beam profiler,提供更高分辨率之测试需求。
近场光学量测 (Near Field Test)
近场光学量测主要应用于3D 感测模块中发光芯片(Laser Diodes) 之近场光学量测, 搭配高性能之显微镜模块与自动寻光平台, 可量测激光半导体(Laser Diodes) 之光腰宽(Beam waist W0)、发散角(divergence angle)、射束品质 (beam propagation ratio M2); 另外, 应用于多光源雷射 (Laser array) 时, 透过Chroma 独特的影像分析技术可获得雷射光强度均匀性(uniformity) 之信息。
产品性能特点
多合一整合型测试机
可弹性安排多种测试站
具精准之温度平台控制能力
温控范围可达-20~85℃
光学模块可支持大角度之发光角量测
实现奈秒级高速测试 ( 选配)
应用范围
3D 感测发光模块与芯片特性测试
车用Lidar 发光模块与芯片特性测试
各种激光 (Laser) 产品之特性测试
技术参数
Model | 58625 |
Max. Supported Test Stations | 4 |
Temperature Control of Test Station | Standard: 25~85℃ ; Option: -20~85℃ |
Temperature Accuracy | ± 0.3℃ *1 |
Temperature Stability | ± 0.1℃ *2 |
Clean Room Class | 10,000 |
Current Accuracy | 0.2% F.S. |
SMU Specification | |
Number of SMUs (25W max. each) | 2 channels (additional channels optional) |
Driving Mode | CW and Pulse |
Pulse Mode | ≦ 6A, ≦ 5V, 100us Pulse width, ≦ 10% |
CW Mode | Max. ≦ 3.5A/5V |
Current Range | ±6A/±3.5A/±2.5A/±1A/±100mA/±10mA/±1mA/±100µA/±10µA/±1µA |
Voltage Range | ±25V/±12.5V/±10V/±5V/±2V/±1V/±500mV/±200mV/±100mV |
LIV+λ Measurement | |
Test Parameters | Optical power (w), Forward voltage (v), PCE(%), SE,λp and λc (nm) |
Integrating Sphere Cover Angle | ≦ 120˚ *2 |
Optical Power Measurement Range | 1mW~10W *2 *3 |
Wavelength Range | 800~1,000nm |
Wavelength Optical Resolution | ≧ 0.25nm |
FFP Test (Projection) | |
Test Parameters *4 | FOI uniformity, divergence angle |
Coverage Angle | ≦ 120˚ |
Optical Power Measurement Range | 100mW~10W *5 |
NFP Test (Laser Diode) | |
Test Parameters *4 | Standard: Relativity, Intensity, Uniformity, Dead emitters Option: W0, M2, Divergence angle |
Optical Module *6 | ND filters, NA ≦ 0.3@940nm (manual selection) |
Effective FOV | 1.6x1.2mm (emitter size ≦ 1.4x1mm) |
Optical Power Measurement Range | 10mW~10W (940mn) |