58605 高功率雷射二极体烧机及可靠度测试系统
烧机测试、可靠性测试与寿命测试
Chroma 58605的高密度、多功能、温控模块，提供雷射二极管老化测试。每个模块可提供高达128个SMU信道，每个信道可透过软件，设定不同的电流值，并量测电压。
自动电流控制模式 (ACC)
在ACC模式下，控制电路可提供非常稳定的电流给每个雷射二极管。不管烧机中的雷射二极管有电压或者温度变化，烧机测试期间的供电流将保持预先设定好的固定值，电压值则会被量测并记录下来作为质量的参考依据。
自动光功率控制模式 (APC)
依据外部光电二极管 (Photodiode) 受光激发所产生的回馈讯号，控制电路可以自动调整雷射二极体的电流保持固定的回馈讯号强度。这表示待测物在烧机期间的输出光强度能一直保持在一个固定值。电压与电流值则被记录下来作为质量的
参考依据。
温度控制
专利设计的控温平台 (Thermal plate) 能够精确控制雷射二极管的外壳温度或基板温度，同时有很好的稳定性与均温性。相较烤箱或烘烤炉类型的雷射二极管老化系统，Chroma的解决方案更加精简、容易操作，更佳的效能与节省能源。另外，探针在待测物上仅留下极小痕迹，适合多样性运作以及容易维护。
独立抽屉模块操作
客户可以在不同的模块设定不同的烧机温度、电流条件、操作模式( ACC/APC)，以及不同的起始时间与烧机期间。模块化独立控制所带来的好处是提供更多的使用弹性，不同模块可同时测试不同的待测物，并且不产生电性或温度的干涉。
保护机制可以关闭个别通道
独特的电路设计使本系统可以在烧机的过程完整保护雷射二极管，不会有电流或电压的突波产生，意外造成待测物的伤害。每个通道可设定电流和电压的高/低限制，当触发限制时，可关闭个别通道以保护待测物。当异常发生时，系统将关闭特定引发异常的信道，其他正常信道可持续正常运作，直到完成预定的任务。除了上述的保护功能外，全信道的SMU也包含信道绝缘(Isolation)与静电 (ESD) 保护，形成完整的隔离防护。
自动断线重连与测试数据复原
烧机测试数据将储存在系统的本地计算机中或指定的远程服务器。当模块与系统计算机通讯暂时中断时，数据可暂存于模块中达6小时以上，当通讯恢复联机之后，暂存于模块中的数据将自动写入系统计算机中或远程服务器，不会发生数据遗失。
产品性能特点
可提供烧机测试、可靠度测试与寿命测试
支持自动电流控制模式 (ACC)
与自动功率控制模式 (APC)
独立信道 (Channel) 驱动与量测
独家设计无突波SMU
最高可达6000 mA单信道电流驱动
精准的TEC温度控制
模块化设计提供最大的便利性与便于维护
系统网络自动重新联机功能
完整的ESD防护
技术参数
Model | 58605 |
System Max. Capacity | 6 burn-in drawers, 768 channels of SMU at maximum |
Burn-in Drawer | 128 channels for 4 subdrawers |
Test Function | Auto current control |
Burn-in Record Time | 1 min. to 5000 hrs |
Auto Current Control Mode (ACC) |
Current Range | 0 to 4A CW or +6A pulsing |
Current Accuracy | 0.5% F.S. |
Voltage Measurement Range | 0 to +7V max. |
Voltage Measurement Accuracy | 0.5% F.S. |
Max. Output | 12W |
Pulse Mode | High speed mode / Low speed mode |
Min. Pulse Width | 100uS *1 |
Temperature Control for each Fixture |
Temperature Setting Range | 20 to 85℃ |
Temperature Setting/Reading Resolution | 0.1℃ |
Temperature Stability | <1℃ *2 |
Temperature Uniformity | ± (1℃ + 2%ΔT) *3 |
System |
Communication Port | Ethernet to server |
Dimensions (D x W x H) | 1342mm x 1229mm x 2298mm |
Weights | 1,200Kg (full rack) |
Power Requirements | 200 to 240 Vac (3 phase 4 Wire, or Y connection), 29KW, 50/60Hz |
Cooling | Water cooling |
Inlet Water Temperature | 18 to 25℃ |
Environment Temperature | 20 to 30℃ |
Humidity | <80% RH, non-condensing |
Air | Compressed | 0.5kg/cm, 30L/min. |
Nitrogen | 0.5kg/cm, 30L/min. |
Nitrogen (reserved for purge) | 0.5kg/cm, 30L/min. |
Water *4 | 0.69m/s, 12L/min. |
58606 光电二极体烧机及可靠度测试系统
Chroma 58606是专为光电二极管设计的高密度、多功能、且具备温度控制的模块式烧机及可靠度测试系统。每个模块内建256个信道的SMU，可透过程序设定不同模式的电源输出与量测。每个系统最多可安装七层模块，共有1,792个SMU通道。
自动定电流控制模式 (ACC)
在ACC模式下，程序会将每个信道控制在预先设定的输出电流值，并达到长时间的稳定输出。即使待测物的内阻随着时间或温度产生波动，程序仍会控制SMU在整个烧机期间维持定值的电流输出。而待测物的电压值会在整个烧机期间定时的量测，并且记录下来，留待事后分析或作为出货的判断。
烧机温度控制
专利设计的加热板能够精确地控制子模块内的温度，同时有很好的稳定性与均温性。与烤箱或温控腔(oven or chamber) 类型的雷射二极管烧机系统比较，Chroma 58606的解决方案更加精简、容易操作，并具更佳的效能且更节省能源。使用加热板的好处是，雷射二极管不会受到ESD的干扰，更少的粉尘与异物污染，以及容易维护。
高精准探针接触
58606使用特殊探针，即使如APD般小至 70um的焊盘，也能确保接触。 载具和针盘(DIB)会专为每个待测物进行订制，确保正确的接触对位以进行高精度探针接触。
独立的子模块操作
用户可以在不同的子模块设定不同的温度，在不同的时间开始执行烧机测试，并设定不同的烧机时长。独立操作意味着每个子模块都可以设置不同的烧机条件，并且各子模块间互不干涉，提供给用户最多的弹性。
保护机制及关闭个别通道
控制电路同时也包含雷射二极管的保护，不会有电流或电压的突波产生而伤害待测物；可设置各信道电流和电压的上下限保护，当触发上下限时，会实时关闭个别通道来保护待测物。当异常发生时，系统将关闭特定引发异常的通道，其他正常通道仍可正常运作。除了将保护功能设计在控制电路内，信道间的绝缘(Isolation)与静电
(ESD)保护也都包含在设计内。
通讯中断恢复后数据自动写入
老化测试数据储存在系统的计算机中，当模块与系统计算机通讯暂时中断时，数据可暂存于模块中约6~8小时，通讯恢复联机之后，暂存于模块中的数据可自动写入系统计算机，不会有数据遗失。
产品性能特点
提供可靠度测试、寿命测试与老化测试
暗电流量测与崩溃电压量测
每层模块提供256个四象限SMU通道
每通道最高可达80V
专利无突波SMU设计可保护敏感组件
每个SMU信道可由软件控制做独立输出
各子模块可独立控制
各夹具(carrier)独立温度控制
技术参数
Model | 58606 |
Channels | 256 channels per drawer 64 channels per sub-drawer |
Burn-In Time | 5,000 hrs and above |
Temperature |
Operating Mode | Room Temperature (20℃~30℃) |
Thermal Chuck Operating Temperature | 40℃~180 ℃ |
Temperature Stability | ±1℃ for set point |
Setting/Measurement Resolution | 0.1 ℃ |
Over Shoot | < 5℃ |
Rising Time | Less than 60 mins from 25℃ to 180℃ |
Cooling Time | Less than 40 mins from 180℃ to 45℃ |
Probing Pitch |
Pad Pitch | 120 um |
Pad Size | 70 um |
Contact Rate | > 97% |
SMU Specifications |
Voltage Force | ±80V |
Voltage Measurement | ±80V |
Voltage Resolution | 10mV |
Voltage Accuracy | ±0.5V |
Current Force | Range 1 | ±2uA | Range 2 | ±2mA |
Current Measurement | Range 1 | ±2uA | Range 2 | ±2mA |
Current Resolution | Range 1 | 0.1nA | Range 2 | 0.1uA |
Current Accuracy | Range 1 | ±0.02uA | Range 2 | ±0.02mA |
System |
Dimensions | 1,341 mm x 773 mm x 2,094 mm |
Configuration | 7 drawers per rack 4 carriers per drawer 28 independent test modes |
Test Function | ACC ; Breakdown Voltage ; Dark Current |
Burn-in Record Time | 1hr to > 5000hrs |
Power Requirement |
Power Supply | 200V~240V, 3~/4W Delta |
Max. Power Consumption | Max. 11 kW with full capacity |
Accessories |
IPC x1 (Windows 10), monitor x1, mouse x1, keyboard x1 |
58604 雷射二极体烧机及可靠度测试系统
老化测试、信赖性测试与寿命测试
Chroma 58604的高密度、多功能、温控模块，提供雷射二极管老化测试。每个模块可提供高达256个SMU信道，每个信道可以在各式控制模式下供电流、量测电压。
自动电流控制模式 (ACC)
自动电流控制模式 (Auto Current ControlMode, ACC) ，控制电路提供很稳定的电流给每一个雷射二极管。不管待测的雷射二极管的电阻、温度改变，测试期间的供应电流将保持一定值，电压值则被记录下来作为质量的参考参数。
自动功率控制模式 (APC)
在自动功率控制模式 (Auto Power ControlMode, ACC)下， 依据外部光二极管(Photo
Diode)PCB板传送的回馈讯号，控制电路可以自动调整雷射二极管的电流，保持固定的回馈讯号强度。这表示测试期间的输出光强度一直保持在一定值。电压与电流值则被记录下来作为质量的参考参数。
温度控制
专利设计的加热板(heat plate)能够很精确地控制雷射二极管抽屉箱的温度，同时有很好的稳定性与均温性。与烤箱或温控腔(oven or chamber)类型的雷射二极管老化系统测试比较，Chroma的解决方案更加精简、容易操作，更佳的效能与节省能源(energy saving)。客户端的好处是，雷射二极管上留下极小痕迹、多样性运作、以及容
易维护。
个别模块操作
客户可以在不同的模块设定不同的温度，以及不同的开始测试时间与结束测试时间。如此测试运作有很大的弹性。
保护机制可以关闭个别通道
控制电路同时也设计成雷射二极管的保护电路，不会有电流或电压的突波产生伤害待测物。电流和电压的高/低限制可以触发关闭个别通道的保护机制。当异常发生时，系统将关闭特定引发异常的信道，其他正常信道可正常运作。除了将保护功能设计在控制电路内，信道绝缘(Isolation)与 静电 (ESD) 保护也在系统设计的考虑之中。
通讯中断恢复后数据自动写入
老化测试数据储存在系统的计算机中或选购的远程服务器。当系统模块与远程服务器通讯暂时中断时，数据可暂存于模块中达6小时以上，通讯恢复联机之后，暂存于模块中的数据可写入系统连线的计算机中或远程服务器内，没有数据遗失。
软件接口操作容易
控制软件提供直觉式的视觉接口，在测试期间简单地使用鼠标直接点选想查看的某个模块的某个测试组件，查询方便。烧机测试原始数据储存于Microsoft Excel 兼容的档案中，可做日后进一步分析之用。 选购的条形码机系统可以运用在测试管理。
产品性能特点
技术参数
Model | 58604 |
SMU Module |
Channel Number | 256 channels per module |
Laser Diode Type | TO-46, TO-56, CoC |
Test Function | ACC (standard) ; APC, LIV (optional) |
Burn-in Record Time | 1min. to 5,000hrs or more |
Auto Current Control Mode |
Current Range | ±500mA/±50mA/±5mA/±0.5mA, four ranges configuration |
Current Accuracy | 0.2% F.S. |
Compliant Voltage | ±7 V |
Voltage Measurement Range | ±7 V |
Voltage Measurement Accuracy | 0.2% F.S. |
Auto Power Control Mode (Optional) |
External PD type | Si or InGaAs *1 |
Wavelength Range | 400 ~ 1600 nm *1 |
Optical Power Measurement Repeatability | ±1% |
Temperature Control |
Temperature Measuring Range | Ambient ~ 125 ℃ |
Temperature Setting Range *2 | 45~125 ℃ |
Temperature Setting/Reading Resolution | 0.1 ℃ |
Temperature Stability *3 | 1 ℃ |
Temperature Uniformity | ±(1 ℃ + 1.2% ΔT) *4 |
System |
CommunicationPort | Ethernet to server |
Dimensions (D x W x H) | 1,300 mm x 900 mm x 1,900 mm |
Weights | 800±50 kg |
Power Requirements | 187 ~ 250 Vac (3 Phase 4 Wire, Δ Connection ) or 323 ~ 437 Vac (3 Phase 5 Wire, Y Connection) / 45 ~ 65 Hz |
Environment Temperature | 20~30℃ |
Humidity | <80% RH, non-condensing |
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