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台湾Chroma
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7925

台湾chroma TO-CAN封装外观检测系统 7925

品牌名称：台湾Chroma

产品型号：7925

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产品规格
产品介绍
可检测TO-CAN封装金属外盖与透镜之刮伤、破裂、异物及胶合不良等缺陷
具备自动对焦功能，可克服载盘制造公差内的高度差异
检测完成后可依设定规格挑拣不良品
提供比人工目检更佳的可靠度及重复性
每小时最高可检测3600颗待测物
自动化上下料盘，减少人员上下料时间
提供完整的检测资料，包含检测数据及缺陷影像以供工程分析
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产品资料-台湾chroma 7925 TO-CAN封装外观检测系统
1页
渠道商
产品详情

7925 TO-CAN封装外观检测系统 

Chroma 7925为自动化TO-CAN封装外观检测系统，可提供封装前后的透镜与金属外盖缺陷进行检测。透过高解析度之镜头以及多样的光源配置，可检出30um以上的透镜刮伤及异物。由于载盘可能存在制造公差导致待测物对焦距离均不相同，Chroma 7925配置了自动对焦系统，可自动计算待测物之对焦距离并进行补偿，以确保可以取得清楚的检测影像。

使用者可以自由设定良品与不良品之规则及缺陷编码，并依据编码进行挑拣。从上片、检测、挑拣及下片均为全自动化流程，大幅降低人员操作及制程管理发生错误的机会。检测完成后，工程师可以取得详细的缺陷量化数据，以及储存缺陷影像以利于再判读。相较于人工目检无法保留检测资料，使用Chroma 7925所取得之资料，将有助于分析制程问题，并进一步提升产品良率。

TO-CAN Defect Items

7925-1.png


技术参数

SPECIFICATIONS

Model

7925

Target

TO-CAN package

Tray Size

< 6” (width) X 6” (Length)

Station Layout

Optical side inspector X1 Auto cassette   X 2

Picker X1

Throughput

UPH 3600 (depends on the numbers   of light mode)

Stages

X, Y axis motorized stages

Algorithm

Provide enable/ disable function   and external algorithm interface

Image Save

All/ defect/ none image selectable

Monitor

Real-time tray map

Report

*.txt, including chip position, defect   type

Dimension

1500mm x 1200 mm x 1800mm


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