台湾chroma VLSI测试系统 3380P-宜器服务网

产品详情

3380P VLSI测试系统

为因应未来IC芯片须具备更高速度及更多脚位及更复杂功能的IC芯片，Chroma新一代VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高且功能更强大。

3380D/3380P/3380机型为因应高同测(High Parallel Test)功能，除内建独特的4-wire功能高密度IC电源(VI source)外，更具备Any Pins to Any Site高同测功能(512 I/O pin可并行测512 个测试芯片)，以因应未来IC芯片更高的测试需求。
3380P同时具备All-In-One (Only Test Head) 的小型化、低耗能化设计及非常具竞争性的机台性价比。

3380系列VLSI测试系统无论在装机、稳定度、友善使用接口、及成本效益上，长期以来皆已于中国市场获得广泛印证。

产品性能特点

50/100 MHz测试频率
50/100 Mbps数据速率
512数字信道管脚 (最高可至 576数字信道管脚)
并行测试可达 512 sites 同测数
32/64/128M Pattern 内存
多样弹性 VI 电源
弹性化硬件结构 (可互换式 I/O, VI, ADDA)
Real parallel Trim/Match 功能
时序频率测试单位 (TFMU)
AD/DA 功能板卡 (16/24 bits) (可选配)
SCAN向量存储深度(最高 2G bits/chain) (可选配)
ALPG 测试选配供内存 IC用
STDF 工具支持
测试程序/pattern 转换器 (J750, D10, V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
人性化 Windows 7 / Windows 10 操作系统
CRAFT C/C++ 程序语言
软件接口与 3380P/3360P 相同
Direct mount 治具可相容于3360P probe-card
Cable mount 治具可相容于3360D与3360P

满足各种应用范围的芯片测试
Logic, MCU, ADDA (Mixed-signal) ; Power, LED driver, Class D ; SCAN, ALPG, Match and etc.

技术参数

Model	3380P
Clock Rate	50/100 MHz
Data Rate	50/100 Mbps
Pin Channels	512 pins ( Max. 576 pins)
Pattern Memory	32 & 64M(S) / 64 & 128M (option)
Capture Memory	16M per pin (50 MHz)
Parallel Testing Capability	512 DUTs
EPA	± 500ps
Resource Per Pin Architecture	Yes
VI source	MXDPS / MXUVI / MXREF / MLDPS / MDDPS
PMU(± 48V, ± 100 mA )	16 Channels /board
HV-Pins driver ( +5.9V to +13.5V )	4 channels /board
PPMU (-2V~+ 6V, ± 32 mA )	Per pin (FIMV/FVMI)
Programmable Active Load ( ± 12 mA)	Per pin
TFMU (Time/Freq Measure Unit : Max. 400 MHz)	Per pin
Free-run Clock ( Max. 200 MHz )	Per pin
Windows Environment	Windows 7 / Windows 10
Programming Language	C\C++
Test Option	Specification
AD/DA Converter Test Option (MXAWI/MXAWI2)	4 AWG / 4 DIG (Max. 24 bits)
MXUVI (DPS ±12V, ±1A, CG ±4A)	16 channels /board
MXDPS ( DPS -8V~+16V ±2A)	8 channels /board
MXREF (DPS ±48V, ±250mA, CG ±1A)	16 channels /board
MLDPS (DPS +12V/±500mA,±6V/±1A, CG max. ±32A)	32 channels /board
MDDPS (DPS -6V~+18V, ±500mA~±125mA, CG max. ±32A)	64 channels /board
SCAN Option	1G bits/chain (2G option)
ALPG Memory Test Option	16X, 16Y, 16D/board
System and Dimension
Power Consumption	Max. 3KVA
Only Test Head	W640 x D470 x H639 mm ( Max.100Kg)
* Note 1: "Direct-Mount" as Standard, "Cable-Mount" as Option