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台湾Chroma
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3380D

台湾chroma VLSI测试系统 3380D

品牌名称：台湾Chroma

产品型号：3380D

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产品规格
产品介绍
50/100 MHz测试频率
50/100 Mbps数据速率
256数字信道管脚
并行测试可达 256 sites 同测数
32/64/128 M Pattern 内存
多样弹性 VI 电源
弹性化硬件结构 (可互换式 I/O, VI, ADDA)
Real parallel Trim/Match 功能
时序频率测试单位 (TFMU)
AD/DA 功能板卡 (16/24 bits) (可选配)
SCAN向量存储深度(最高 2G bits/chain) (可选配)
ALPG 测试选配供内存IC用
STDF 工具支持
测试程序/pattern 转换器 (J750, D10, V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)
人性化 Windows 7 / Windows 10 操作系统
CRAFT C/C++ 程序语言
软件接口与 3380P/3360P 相同
Direct mount 治具可相容于3360P probe-card
Cable mount 治具可相容于3360D与3360P
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台湾Chroma 3380D VLSI 测试系统
2页
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产品详情

3380D VLSI测试系统 

为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势， Chroma VLSI测试系统3380D/3380P/3380 除采用更弹性架构外，整合密度更高，且功能更强大。

3380D/3380P/3380机型为因应高同测功能 (High Parallel Test)，除内建独特的4-wire 功能高密度IC电源 (VI source) 外，更具备any-pins-to-any-site高同测功能 (256数字信道管可并行测256个测试芯片)，以因应未来IC芯片更高的测试需求。

3380D/3380P/3380系列同时具备机框式直流电源供应的小型化、低耗能化设计及非常具竞争性的机台性价比。

3380D VLSI测试系统非常适合应用于IoT相关的芯片测试，尤其是一些具成本压力的组件如整合功能之MCU、MEMS等，VLSI 测试系统3380D/3380P/3380 系列开发至今，已在大中华地区被广泛的采用。

产品性能特点

  • 50/100 MHz测试频率

  • 50/100 Mbps数据速率

  • 256数字信道管脚

  • 并行测试可达 256 sites 同测数

  • 32/64/128 M Pattern 内存

  • 多样弹性 VI 电源

  • 弹性化硬件结构 (可互换式 I/O, VI, ADDA) 

  • Real parallel Trim/Match 功能

  • 时序频率测试单位 (TFMU) 

  • AD/DA 功能板卡 (16/24 bits) (可选配) 

  • SCAN向量存储深度(最高 2G bits/chain)  (可选配) 

  • ALPG 测试选配供内存IC用

  • STDF 工具支持

  • 测试程序/pattern 转换器 (J750, D10, V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K) 

  • 人性化 Windows 7 / Windows 10 操作系统

  • CRAFT C/C++ 程序语言

  • 软件接口与 3380P/3360P 相同

  • Direct mount 治具可相容于3360P probe-card 

  • Cable mount 治具可相容于3360D与3360P


满足各种应用范围的芯片测试

Logic,ADDA,RF(MCU),LED,Power,ALPG,Match等

3380D-1.png


技术参数

Model

3380D

Standard Specification

Clock Rate

50/100 Mhz

Data Rate

50/100 Mbps

Pin Channels

256 Pins

Pattern Memory

32M & 64M (S) / 64 & 128M   (option)

Parallel Testing Capability

256 DUTs

EPA

± 500ps

Resource Per Pin Architecture

Yes

VI source

MXDPS / MXUVI / MXREF / MLDPS

PMU(± 48V, ± 100 mA )

16 Channels /board

HV-Pins driver ( +5.9V to +13.5V   )

4 channels /board

PPMU (-2V~+ 6V, ± 32 mA )

Per Pin (FIMV/FVMI)

Programmable Active Load ( ± 12 mA)

Per Pin

TFMU (Time/Freq Measure unit:Max   400Mhz)

Per Pin

Free-run Clock ( Max: 200Mhz )

Per Pin

Windows Environment

Windows 7 / Windows 10

Programming Language

C/C++

Test Option Specification

AD/DA Converter Test Option ( MXAWI/MXAWI2   )

4 AWG/ 4 DIG (16/24bits)

MXUVI ( DPS ± 12V, ± 1A, CG ± 4A   )

16 Channels /board

MXDPS ( DPS -8V~+16V, ± 2A )

8 Channels /board

MXREF ( DPS ± 48V, ± 250mA, CG ±   1A )

16 Channels /board

MLDPS (DPS + 12V/± 500mA, ± 6V/±   1A , CG max ± 8 A )

32 Channels /board

SCAN Option

1G bits/ chain (max. 2G bits/chain   optional)

ALPG Memory Test Option

16X, 16Y, 16D /board

System And Dimension

Power consumption Max

2KVA (VI Option to Max. 3KVA)

Test Head

W365 x D586 x H412 mm ( Max:45Kg)

Power Box

W220 x D372 x H187 mm ( Max:15Kg)


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