台湾chroma VLSI测试系统 3380-宜器服务网

产品详情

3380 VLSI测试系统

为因应未来IC芯片脚位数更多、速率更高、整合功能更为复杂的发展驱势，Chroma以此发展方向提供新一代3380系列VLSI测试机台，包含3380D、3380P、3380机型，根据不同的脚位数或并行测试 (Parallel Test)，提供需求与成本效益兼具的测试解决方案。

此系列机型之一的VLSI测试系统3380，具有最高1280数字信道管脚、256 VI、弹性化架构、以及完整选项功能板(ADDA/Hi-voltage DPS)等特色；可符合高同测的市场驱势，具备1024数字信道管脚可并行测试1024个芯片的能力。除了独特的4-wire高密度IC电源(VI source) 外，弹性化可调整的架构还可提供Mini & Macro LED驱动IC、CMOS影像传感器(CIS)、及3D影像测试等解决方案；以利涵盖更广泛的IC测试功能与应用范围。

3380 VLSI测试系统可无缝接轨3380D (256pins) 与3380P (512pins)，以因应更高的产能需求。3380系列VLSI测试系统无论在装机、稳定度、友善使用接口、及成本效益上，长期以来皆已于中国市场获得广泛印证。

应用范围

微控制器单元 (MCU)
ADC/DAC混合信号IC
逻辑IC
ADDA
ALPG
Smart card
Mini & Macro LED驱动IC
CMOS影像传感器 (CIS)
电源IC (Class D IC)
消费性IC
LED驱动IC

技术参数

Model	3380
Clock Rate	50 / 100MHz
Data Rate	50 / 100Mbps
I/O Channels	1024 Pins ( Max. 1280 Pins)
Pattern Memory	Standard : 32M / 64M ; Options : 64M / 128M
Parallel Testing Capability	1024 DUTs
EPA	± 500ps
Resource Per Pin Architecture	Yes
VI source	MXDPS ; MXUVI/MXREF ; MLDPS ; MDDPS
PMU (± 48V, ± 100mA )	32 channels
HV-Pins driver ( +5.9V to +13.5V )	4 channels per board
PPMU (-2V~+ 6V, ± 32 mA )	Per pin (FIMV/FVMI)
Programmable Active Load ( ± 12 mA)	Per pin
TFMU (Time/Freq Measure unit:Max 400Mhz)	Per pin
Free-run Clock ( Max: 200Mhz )	Per pin
Windows Environment	Windows 7 / Windows 10
Programming Language	C\C++
3380 Test Options
AD/DA Converter Test (MXAWI / MXAWI2)	4 AWG / 4 DIG (16 / 24 bits)
MXUVI (DPS ±12V, ± 1A, CG max. ±4A)	16 Channels / board
MXDPS (DPS -8V ~ +16V, ±2A )	8 Channels / board
MXREF (DPS ±48V, ±250mA, CG max. ±1A)	16 Channels / board
MLDPS (DPS +12V / ±500mA, ±6V/±1A, CG max.±32A)	32 Channels / board
MDDPS (DPS -6V ~+18V, ±500mA~±125mA, CG max. ±32A)	64 Channels / board
SCAN	1G bits/ chain(max. 2G bits/chain optional)
ALPG Memory Test	16X, 16Y, 16D /board
System and Dimension
Power Consumption	Max. 8KVA
Test Head	W714 x D717 x H458 mm ( Max. 165Kg)
Main Frame	W766 x D700 x H1562 mm ( Max. 160Kg)
* Note *1: "Direct-Mount" as Standard