3112 晶片测试分类机
Chrom 3112具备单头与多头之适合量产的PnP自动化芯片测试分类机,可藉由治具变更处理各种不同尺寸规格之芯片测试与分类。此设备透过PnP方式将芯片自芯片盘加载至测试站中,精确的测试后依据测试结果稳定的放置于分类盘中。其高效率的模块化设计与精准的机构传动结构可确保在高速运作下减少Jam Rat的量产要求,多重检查功能
装置可降低待测物发生异常的损坏。
芯片测试运用此自动化测试分类技术不仅能提升生产效率、减少人力需求,同时也增加了测试稳定度及测试良率。此外,其简洁的机台设计更可节省机台于测试厂之占地面积,帮助客户大幅降低生产成本。
产品性能特点
高信赖度之PnP自动化测试分类机
X4多盘置入自动测试分类
全方位(XN/Z/Θ)可调式探针座模块
测式座产品堆栈检测
X12输出分类盘可程序设定输出类别
全程实时良率显示与控制
全程探针接触状态显示(选配)
技术参数
Model | 3112 |
Handler Dimension | 1020 mm (W) x 870mm (D) x 1300 mm (H) |
Weight | Net Weight < 250kg |
Power Requirement | Power Supply : Single-phase, AC 220V, 60 Hz / 1.2KVA Compressed Air : Dry Air of 5.0 kg/cm2 |
Application Die Size | 5 x 5 mm to 20 x 20 mm |
Test Site Number | Single site ; Dual site |
Input Loader | 4 manual tray |
Number of sorting catagories | 12 Hardware Bins (128 Software Bins) |
Probe Card Outside Dimension | 4470 x 5620 mil (Max. 113.5 x 142.7 mm) * Probe card provide by customer |
Carrier Tray Outside Dimension | Standard size : 101.4 x 101.4 mm |
Contact Force | Max. 10 kgf |
UPH | 600 @ T.T. = 7 sec. (Dual Site) |
Probe Alignment (X / Y / Z / θ) | Manual alignment by test site stage |
Interface | RS 232 ( Optional GPIB) |
Jam Rate | 1/2000 (exclude any sticky residue) |
Change Over Time | < 10 min. |