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3270

台湾chroma 微型IC测试分类机 3270

品牌名称:台湾Chroma

产品型号:3270

产品规格
产品介绍
适合CMOS影像感应组件量产需求
可靠的高速Pick&Place:分类机
3x3mm微型IC处理能力
浮动头可有效率平衡测试压力
IC残留检测功能
渠道商
产品详情

3270 微型IC测试分类机 

Chroma 3270是一款创新的微型IC测试分类机,特别适合CMOS影像感应元件(CMOS Image Sensor,CIS)量产所需,Chroma 3270可配合多种不同的封装类型包括传统的QFP、TQFP、μBGA、PGA及CSP封装。Chroma3270采用Pick&Place技术,可从JEDEC夹盘来拾取IC,移动到测试位置,然后将测试后产品置于适当之Tray盘。

chroma 3270能同时处理32个待测物进行平行测试,并提供50℃~125℃高温测试选择。不但能提高产量,提升生产良率,同时大幅降低测试成本。

产品性能特点

  • 适合CMOS影像感应组件量产需求

  • 可靠的高速Pick&Place:分类机

  • 3x3mm微型IC处理能力

  • 浮动头可有效率平衡测试压力

  • IC残留检测功能


技术参数

Model

3270

Dimensions and Weight

Dimensions : 2100 mm(W) x 1540 mm(D) x 1720 mm(H) Net Weight : 1300 kg

 

Power Requirement

Power supply : AC220V ± 10%, 50/60  
Hz 3-Phase Maximum power consumption : 12KVA, 20A

Compressed Air : Dry air of 5.0   kg/cm2 (0.49 Mpa) or higher, constant supply

 

Applicable Device

Type : BGA series, µBGA, PGA, QFP   series, CSP, WCSP, PLCC, QFN, TSOP

Outer dimensions : 3 mm x 3 mm to   14 mm x 14 mm Lead / Ball pitch : 0.4 mm / 0.5 mm above

Multiple Test Sites

16 sites

Index Time

5 sec (Exclude power and communication   time)

Cycle Time

One site cycle time 6 sec (4 site   simultaneously, tray pitch fixed)

Jam Rate

1/2000 pcs

Applicable Tray

Standard tray size : JEDEC 135.9   mm(W) x 315 mm(L) Tray thickness : 7.62 mm

Categories

5 Categories, 1 Auto, 4 Fixed (accepts   128 bin signals for RS-232)

Contact Force

Max. 20 kgf ( Accuracy ±1kgf )

High Temperature (Optional)

Operating mode : room temperature  
/ high temperature Temperature setting range : Ambient to 50˚C

Tester Interface

Standard : RS-232


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