Vitrek V7X 系列 – 没有其他耐压测试仪可以触摸它们
近 25 年来，一种执念驱使我们不断改进耐压测试仪的性能——速度、准确性、用户安全性和可靠性一直是我们的驱动力。构建更好的耐压测试仪是我们的DNA——它促使我们在1990年成功设计了第一台4合1安全测试仪，并促使我们重新定义了当今低成本耐压测试仪的性能。
Hipot 体验已被重新定义
我们对V7X系列的目标是实现闻所未闻的目标。在功能强大而紧凑的多功能耐压测试仪中提供最先进的
性能，并且以入门级价格实现。从我们易于使用的触摸用户界面，到其超可靠、高效率、无风扇设计，V7X 提供了无与伦比的性能。我们达到了我们的目标吗？您是评判者 - 将V7X与我们中国制造的竞争对手进行比较，看看美国工程学的实力如何。我们制造 Vitrek 耐压测试仪。你们的生产线上有什么？
V5 内置耐压开关
对于高压电缆和组件测试，请选择具有 16 个内置高压开关通道的 V75。使用多功能 V75，您可以测试最多 8 个测试点的任意组合的耐压或 IR，并且可以测量多达 8 根导体上的低电阻（从 .001 欧姆到 60K 欧姆）。只需轻轻一按即可自动完成所有操作，所有操作均来自一个紧凑型测试仪。对于超过 8 个点的要求，V7X 可以控制多达 4 个 Vitrek 964i 64 通道高压开关系统，提供多达 256 个通道的耐压测试能力。简单、快速、自动的多点耐压 – 切换到 Vitrek V7X。你会很高兴你做到了。
产品特点和优势
●4.3 英寸彩色触摸屏 – 易于使用的直观用户界面
●6 种功能可供选择 – AC/DC 耐压、IR、接地连接、连续性和内置开关
●美国制造 – 加利福尼亚州圣地亚哥设计和制造
●紧凑、轻便、坚固、无风扇、快速（最小测试时间100mS）和准确
●5KV AC/DC 耐压，20mA 最大源电流
●接地连接 1-30A RMS（42A 峰值），100μΩ 分辨率
●100 纳安泄漏电流分辨率
●拥有成本低 – 2 年校准间隔
●标配USB 2.0、串行/RS232、数字I/O接口
●连续可变绝缘电阻 20-5000V， 450GΩ Max
●具有稳态/上升通模式的多模红外
●测试存储器可存储多达 999 个步骤和 60 个测试序列
●内部自检功能可充分执行输出并验证电流精度
●预编程的每日验证测试，可选 PVD 测试负载
●150μS 安全关断
●斜坡放电能力
●可选电弧检测 1-20mA
●符合 UL、CSA、IEC 安规测试仪要求
●CE安全标志认证EN61010
●2 年零件和人工保修
前面板特性
●4.3 英寸彩色触摸屏，您需要的所有信息 - 超级易于使用
●大而明亮的 LED 警告测试指示灯
●用于耐压和红外的安全锁定高压端子
●用于接地连接的薄型大电流接线柱
●独立的 LED 通过/失败指示灯
●您在生产线上值得信赖的品牌
●方便的前面板电源开关
●超高可靠性启动/停止开关
后面板特点
●带安全联锁的数字 I/O
●最多可控制 4 台高压扫描器（V75 上不适用，内置高压开关）
●USB 2.0 高速通用串口
●RS232串口，可选波特率高达115Kbaud
●超静音、超可靠、高效无风扇设计
●重型 100% 硅胶保护保险杠
●先进的设计，内置的品质——美国制造
●可选的后面板端子或V75 16端子，用于耐压/红外和连续性
●坚固耐用的 V7X，带防摔型硅胶保险杠
V7X测试步骤规格
所示精度规格在校准温度 ±5C 以内的温度下有效。超出此范围，每 C 增加 10% 的规格。 将最大 ACW、DCW 和 IR 电压降低 2.5 英尺/1000 英尺，高于 5000 英尺 ASL 高度。
所有精度规格均在 V7X 端子上有效，因此不包括由于用户接线电阻、泄漏或耦合或其他用户产生的泄漏或干扰而产生的任何影响。
显示的分辨率适用于显示的测量值、限值和设置。在内部，所有测量值的分辨率通常提高 10 倍，并且所有限制和设置均以用户输入的相同分辨率实现。通过一个接口，所有测量结果都以 5 位分辨率报告。
通常，用户设置可以定义为最多 4 位分辨率，并从前面板选择单位（例如 μA 或 mA）;或接口分辨率高达 6 位。
除非另有说明，否则用户终止的停留/测试期最多可延长 2 天。
并非所有型号的 V7X 都提供所有测试类型。
ACW 测试步骤
电压
10 至 5000Vrms（1V 分辨率）正弦波，50 或 60Hz +/- 0.05% V75 型：10 至 2000Vrms（1V 分辨率）正弦波，50 或 60Hz +/- 0.05% V76 型：10 至 2500Vrms（1V 分辨率）正弦波，50 或 60Hz +/- 0.05% 1%
+5V 精度，在所有允许的负载条件下
最大负载
20mArms（最大阻值 10mArms，持续 >10 秒），低于 1000V 时每 V 降低 20μA， 高于 4000V
时，每 V 降低 10μA 泄漏精度
直流耦合，真有效值，10Hz-4KHz 3dB带宽 DUT 隔离 （<1.1mA） ： 1%+5μA （1μA 分辨率） DUT 隔离 （>1.1mA） ： 1%+30μA （10μA 分辨率）
DUT 接地 ： 1%+30μA+（4μA per KV） （10μA 分辨率） ARC 限制
禁用或高达 30mA （1mA 分辨率） 斜坡
0 至 99.9 秒（0.02 秒分辨率）
停留
0.1 至 9999 秒（分辨率为 0.1 秒）或用户终止
关机
高压端子电流过大：1ms以内 用户停止：2ms以内 联锁打开（如果启用）：2ms以内 负载击穿（负载电流突然不受控制地增加）：150μs
以内 泄漏限值（如果启用）：100ms以内 ARC 限制（如果启用）：1ms
以内 用户设置
电压电平
频率
DUT 隔离/接地
最小泄漏限值（可禁用） 最大泄漏限值（可禁用） ARC 限制（可禁用）
斜坡周期
停留期
斜坡下降 快速/作为斜坡
故障停止/继续顺序
DCW 测试步骤
电压
20 至 5000VDC（1V 分辨率） V75 型：20 至 3000VDC（1V 分辨率） V76 型：20 至 2750VDC（1V 分辨率）
在所有允许的负载条件下，精度为 1%+5V 最大负载
<2000V：10mA（1000V以下每伏降低10uA），<0.25uF电容
2000-3000V：7mA（2000V以上每V降低4μA），<0.1μF电容
3000-4000V ： 3mA （3000V以上每V降低1μA）， <0.05μF电容 >4000V ： 2mA （4000V以上每V降低0.5μA）， <0.03μF电容
泄漏精度
DUT 电阻，隔离 （<200μA） ： 1%+1μA （0.1μA 分辨率） DUT 电阻，隔离 （0.2-1.5mA） ： 1%+2μA （1μA 分辨率） 否则：1%+20μA （10μA 分辨率） ARC 限制
禁用或高达 30mA （1mA 分辨率）
斜坡
DUT 电阻：0.1 至 99.9 秒（0.02 秒分辨率） DUT 电容：1.0 至 99.9 秒（0.02 秒分辨率） 停留
0.1 至 9999 秒（0.02 秒分辨率）
或用户终止
斜坡下降
0 秒或根据斜坡
定义 出院 内部
50KΩ 放电负载和 0.03μF 容性能量
关机
高压端子电流过大：1ms以内 用户停止：2ms以内 联锁打开（如果启用）：2ms以内 负载击穿（负载电流突然不受控制地增加）：150μs
以内 泄漏限值（如果启用）：100ms
以内 ARC 限制（如果启用）：1ms
以内 用户设置
电压电平
DUT 隔离/接地
DUT 电阻/电容式
最小泄漏限值（可禁用） 最大泄漏限值（可禁用） ARC 限制（可禁用）
斜坡周期
停留期
斜坡下降 快速/作为 斜坡
停止/继续 故障顺序
红外测试步骤
电压
20 至 5000VDC（1V 分辨率） V75 型：20 至 3000VDC（1V 分辨率） V76 型：20 至 2750VDC（1V 分辨率）
在所有允许的负载条件下
精度为 2.5%+5V 最低红外
<1000V ： 150kΩ 1000-2000V ： 400kΩ 2000-3000V ： 2MΩ >3000V ： 10MΩ 最高 IR DUT 电阻，隔离式：90MΩ/V
DUT 电容式，隔离式：2MΩ/V
DUT 接地：0.1MΩ/V
最大电容 <1000V ： 2uF 1000-2000V ： 0.25uF 2000-3000V ： 0.1uF >3000V ： 0.03uF
5mA 最大充电电流
红外精度
<最高 IR 的 5%：2%（0.1% 分辨率） 最高 IR 的 5-15%：5%（1% 分辨率） 最高 IR 的 15-30%：10%（1% 分辨率） 最高 IR 的 >30%：20%（1% 分辨率）
测试时间
0.1 至 9999 秒（0.1 秒分辨率）或用户终止
测试延迟
0.0 至 9999 秒（0.1 秒分辨率）
出院
内部 50KΩ 放电负载和 0.03μF 容性能量
关机
高压端子电流过大：1ms以内 用户停止：2ms以内 联锁打开（如果启用）：2ms
以内负载击穿（负载电流突然不受控制地增加）：150μs
以内 IR 限制（如果启用）：100ms 以内 ARC 限制（如果启用）：1ms
以内 用户设置
电压电平
DUT 隔离/接地
DUT
电阻/电容 最小红外限制 最大红外限制
（可禁用）
斜坡周期
停留期 延迟期
通过/失败/时间/稳定或上升
斜坡快速下降/斜坡
停止/故障时继续顺序停留结束
CONT 测试步骤
方法
2 端子测量 （DC） 测试电流
<10.5mA
测试电压
<4.15V
范围
0Ω 至 60KΩ 精度
<0.75Ω ： 1.5% + 0.015Ω （0.001Ω 分辨率） <13Ω ： 1.5%+0.02Ω （0.01Ω 分辨率） 13-1000Ω ： 3%+1Ω （1Ω 分辨率） 1K-4KΩ ： 4% （10Ω 分辨率） 4K-13KΩ ： 5% （100Ω 分辨率） >13KΩ ： 10% （1KΩ分辨率）
测试时间
0.06 至 9999 秒（0.02 秒分辨率）或用户终止
CONT 泄漏
DCW 或 IR 测试步骤：<0.1μA ACW 测试步骤：<2.5μA/KV 设置（DUT 隔离）、<5μA
（DUT 接地） 用户设置
最小限制（可禁用） 最大限制（可禁用）
电阻偏移
测试时间
故障时停止/继续序列
GB 测试步骤
方法
4 端子测量 （AC） 电流 1 至 30Arms（0.01A 分辨率）
正弦波 50 或 60Hz +/- 0.05% 3%
+10mA 精度
合规性
>所有电流
均为 4.5Vrms 开路
<10Vpk
DUT 接地 DUT 可以与地隔离或接地
。如果接地，必须在 V7X 接地的 3Vpk 范围内。
范围
最大电阻由最大顺应性和测试电流
决定 精度
<2A ： 3.5%+3mΩ （1mΩ 分辨率） 2-6.5A ： 3%+2mΩ （1mΩ 分辨率） >6.5A ： 2.5%+1mΩ （0.1mΩ 分辨率） 测试时间
≤20A：0.1 至 9999 秒（0.02 秒分辨率）或用户终止
>20-25A：0.1 至 180 秒（0.02 秒分辨率）
或用户终止
>25A：0.1 至 120 秒（0.02 秒分辨率）或用户端接（最大占空比
50%） GB 泄漏
DCW 或 IR 测试步骤：<1μA ACW 测试步骤：<5μA/KV 设置（DUT 隔离），<10μA
（DUT 接地） 用户设置
当前电平
频率
最小限制（可禁用）
最大极限
电阻偏移
测试时间
故障时停止/继续序列
暂停测试步骤
暂停延迟
0.1 至 9999 秒（0.02 秒分辨率）
用户设置
暂停延迟
HOLD测试步骤
超时：0.1 至 9999 秒（分辨率为 0.02 秒）或无
用户设置
超时（可禁用） 消息（两行）
SWITCH测试步骤
执行时间
用户设置
子类型（型号 V75） 指定子类型中每个继电器的继电器状态（型号 V75） 每个开关单元中每个继电器的继电器状态（最多 4 个开关单元）（所有其他型号）
尺寸规格
137 毫米高 x 248 毫米宽 x 284 毫米深（5.4 英寸 x 9.75 英寸 x 11.2 英寸） V70、71、73、75 和 79：净重 6.8 千克（15 磅），装运 7.9 千克（17.5 磅） V74：净重 7.9 千克（17.5 磅），装运
9.1 千克（20 磅）
所示尺寸和重量均为标称尺寸和重量
环境规格
存储环境：-20 至 75C（非冷凝）
工作环境：0 至 40C，<85% RH（非冷凝），污染等级 2
工作高度：0 至 10000 英尺 ASL，5000 英尺以上的最大电压能力降低
电源规格
内部设置为 105-125Vrms 或 210-250Vrms，45-65Hz，最大 200VA
