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ZC1608
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ZC1608

常州中策 多路电势差诱导功衰(PID)测试系统 光伏 ZC1608

品牌名称：中策

产品型号：ZC1608

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产品规格
产品介绍
PID 效应(Potential Induced Degradation)又称电势诱导衰减，是电池组件封装材料和其上表面及下表面的材料，电池片与其接地金属边框之间的高电压作用下出现离子迁移，而造成组件性能衰减的现象。
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产品详情

光伏 ZC1608 多路电势差诱导功衰(PID)测试系统 
PID 效应(Potential Induced Degradation)又称电势诱导衰减，是电池组件封装材料和其上表面及下表面的材料，电池片与其接地金属边框之间的高电压作用下出现离子迁移，而造成组件性能衰减的现象。

技术参数

型号

ZC1608

系统配置

1台主控计算机，1~8台多路电势差诱导功衰测试仪 (ZC1608)(可选配)

大可接入路数

64路，少选配一台测试机(ZC1608)为8路，
多选配8台测试机(ZC1608，ZC1616，ZC1624，ZC1632)为64路。

老化试验时间

0000:00:00~9999:59:59h，可任意设定，试验时间结束，自动切断输出。

实时监控功能

8~64路同时监测，自动记录并实时显示试验参数。

故障警告

屏幕上状态栏显示故障原因，漏电流报警。

人机界面

外置计算机，独立显示器

仪器接口

LAN

直流电压

±2000V

电压分辨率

1V

大限额电流

1mA/ 通道

漏电检解析度及测量范围

0.01uA~1uA

保护功能

过流保护、过压保护、短路保护


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