产品介绍
等离子体加工期间的电弧放电可造成靶和腔室损坏,因而导致基材受损并形成颗粒。随着特征尺寸的下降,微电子设备越来越容易出现电弧引发的损坏。电弧放电可出现在任何等离子辅助过程中,例如电离物理气相沉积 (iPVD)、等离子增强化学气相沉积 (PECVD) 和蚀刻。INFICON Sion 弧检测器可提供至关重要的第一道防线。Sion 能够快速检测到微弧并在明显损伤或废料出现之前对其作出反应。系统可对等离子微电弧事件进行实时检测和分析。
产品功能
便于改装到现有工具箱中
非侵入式传感器安装
高速数据采集 (250 kHz)
与 FabGuard 相集成的数据管理