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CPS-8000

武汉佰力博 低温真空探针台 CPS-8000

品牌名称:佰力博

产品型号:CPS-8000

产品规格
产品介绍
Partulab CPS-8000闭循环低温真空探针台是一款采用可靠的GM制冷技术快速制冷并为晶片、器件和材料(薄膜、纳米、石墨烯、电子材料、超导材料、铁电材料等)提供真空和低温测试条件进行非破坏性的电学表征和测量平台。GM制冷机提供最低温度为4K、10K和80K等不同温度需求的探针台,该闭循环低温真空探针台可以对材料或器件进行电学特性测量、光电特性测量、参数测量、高阻测量、DC测量、RF测量和微波特性测量,广泛应用于半导体工业(芯片、晶圆片、封装器件)、MEMS、超导、电子学、铁电子学、物理学和材料学等领域。
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产品详情

CPS-8000 低温真空探针台 
Partulab CPS-8000闭循环低温真空探针台是一款采用可靠的GM制冷技术快速制冷并为晶片、器件和材料(薄膜、纳米、石墨烯、电子材料、超导材料、铁电材料等)提供真空和低温测试条件进行非破坏性的电学表征和测量平台。GM制冷机提供最低温度为4K、10K和80K等不同温度需求的探针台,该闭循环低温真空探针台可以对材料或器件进行电学特性测量、光电特性测量、参数测量、高阻测量、DC测量、RF测量和微波特性测量,广泛应用于半导体工业(芯片、晶圆片、封装器件)、MEMS、超导、电子学、铁电子学、物理学和材料学等领域。

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配置

--制冷机制冷低温探针台主机  

--4轴或6轴XYZ位移平台    

--VSZ70可视化视觉系统  

7:1变焦、彩色CCD、同轴环形光可调电源  

--PPS-90真空辅助系统及真空阀门、测量控制    

--可选GM制冷机80K/10K/4K三种机型可选

--可选SRS CTC-100温控仪/lakeshore 336温控仪及传感器  

--可选不同电学测量功能套件

   (含Feedthrough、电缆、功能样品固定座、热沉等 )


测量原理

样品温度准确性和温度稳定性是整个低温系统的关键,系统配置3个低温传感器,一个在样品台上,一个屏蔽罩上,一个在探针臂上,通过监测三个地方的温度,确保可以提供一个准确的探温环境。为了避免探针臂的温度传递到样品上,导致样品温度高于样品台温度,探针臂和探针必须做热沉处理。

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功能特点

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低温真空探针台

低温真空探针台由低温探针台、温控系统、视觉系统、低温制冷

控制系统、真空辅助系统组成;

低温探针台,可实现超低温、高真空测量环境,内置探针夹具,可

通过观察窗观察样品情况;

温控系统采用LakeShore温控仪,提供高精度、高分辨率、高稳定

性的温度测量和控制;

气动隔膜台,采用空气弹簧为隔离材料,并安装三个水平自动调节阀,

实现隔离振动干扰实验。



最多配置6个探针臂

视觉系统,采用显微成像装置,探针针尖位置清晰可见,以便准确无误的进行样品测试;

每个探针臂的探针可以进行三维方向上的定位。

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三维位移台

搭配压缩波纹管,实现真空环境下三维调整;

连接电极安装座,可适配不同接口的真空feedthroughs。



制冷机制冷

采用G-M制冷机快速制冷,G-M制冷机提供最低温度为4K、10K和80K等不同温度需求的探针台。

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真空辅助系统

选配带测量套件的高真空分子泵机组,可以在分子泵机组面板

读取真空度值。


技术参数

型号CPS-8000
温度范围

10K-325K(10K GM制冷机),4.5K-325K(4K GM制冷机)

高温选件温度范围:50K到500K;控温稳定性:±50mK ;

降温时间

~3-4 hours;

最大测试样品尺寸

直径51mm;

XYZ位移平台行程与精度

X轴51mm,精度20μm;Y轴25mm,精度10μm;Z轴25mm,精度10μm;
频率范围

测量DC到67GHz

真空环境

~10-5-10-6mabr;

顶部光学观察窗

标准2.0‘’(51mm);

4个直流探针臂,最多可使用6个探针臂,每个探针臂上配有三同轴接头及配套电缆


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