CPS-8000 低温真空探针台
Partulab CPS-8000闭循环低温真空探针台是一款采用可靠的GM制冷技术快速制冷并为晶片、器件和材料(薄膜、纳米、石墨烯、电子材料、超导材料、铁电材料等)提供真空和低温测试条件进行非破坏性的电学表征和测量平台。GM制冷机提供最低温度为4K、10K和80K等不同温度需求的探针台,该闭循环低温真空探针台可以对材料或器件进行电学特性测量、光电特性测量、参数测量、高阻测量、DC测量、RF测量和微波特性测量,广泛应用于半导体工业(芯片、晶圆片、封装器件)、MEMS、超导、电子学、铁电子学、物理学和材料学等领域。
配置 --制冷机制冷低温探针台主机 --4轴或6轴XYZ位移平台 --VSZ70可视化视觉系统 7:1变焦、彩色CCD、同轴环形光可调电源 --PPS-90真空辅助系统及真空阀门、测量控制 --可选GM制冷机80K/10K/4K三种机型可选 --可选SRS CTC-100温控仪/lakeshore 336温控仪及传感器 --可选不同电学测量功能套件 (含Feedthrough、电缆、功能样品固定座、热沉等 ) |
测量原理
样品温度准确性和温度稳定性是整个低温系统的关键,系统配置3个低温传感器,一个在样品台上,一个屏蔽罩上,一个在探针臂上,通过监测三个地方的温度,确保可以提供一个准确的探温环境。为了避免探针臂的温度传递到样品上,导致样品温度高于样品台温度,探针臂和探针必须做热沉处理。
功能特点
低温真空探针台 低温真空探针台由低温探针台、温控系统、视觉系统、低温制冷 控制系统、真空辅助系统组成; 低温探针台,可实现超低温、高真空测量环境,内置探针夹具,可 通过观察窗观察样品情况; 温控系统采用LakeShore温控仪,提供高精度、高分辨率、高稳定 性的温度测量和控制; 气动隔膜台,采用空气弹簧为隔离材料,并安装三个水平自动调节阀, 实现隔离振动干扰实验。 | |
最多配置6个探针臂 视觉系统,采用显微成像装置,探针针尖位置清晰可见,以便准确无误的进行样品测试; 每个探针臂的探针可以进行三维方向上的定位。 | |
三维位移台 搭配压缩波纹管,实现真空环境下三维调整; 连接电极安装座,可适配不同接口的真空feedthroughs。 | |
制冷机制冷 采用G-M制冷机快速制冷,G-M制冷机提供最低温度为4K、10K和80K等不同温度需求的探针台。 | |
真空辅助系统 选配带测量套件的高真空分子泵机组,可以在分子泵机组面板 读取真空度值。 |
技术参数
型号 | CPS-8000 |
温度范围 | 10K-325K(10K GM制冷机),4.5K-325K(4K GM制冷机) |
高温选件温度范围:50K到500K;控温稳定性:±50mK ; | |
降温时间 | ~3-4 hours; |
最大测试样品尺寸 | 直径51mm; |
XYZ位移平台行程与精度 | X轴51mm,精度20μm;Y轴25mm,精度10μm;Z轴25mm,精度10μm; |
频率范围 | 测量DC到67GHz |
真空环境 | ~10-5-10-6mabr; |
顶部光学观察窗 | 标准2.0‘’(51mm); |
4个直流探针臂,最多可使用6个探针臂,每个探针臂上配有三同轴接头及配套电缆 |