TD8160 单⽚⾮晶磁性测量系统
TD8160是专用于测量非晶或纳米晶薄片(带)交流磁特性的装置,由精密励磁及测量装置 ( 40 Hz~65 Hz,可定制至400 Hz )、单片磁导计、全自动测量软件组成。使用该装置可在能耗、效率、材料均匀性/一致性、可靠性、整个生命周期的成本等方面全面优化您的产品。参考标准:GB/T 19346.3-2021《非晶纳米晶合金测试方法 第3部分:铁基非晶单片试样交流磁性能》( 天恒测控参与起草 )。
产品特点
装置具有独立的电参量校准功能。
多尺寸规格的单片磁导计可选,以适应不同样品的测试。
单片磁导计采用双磁轭结构,可实现磁轭退磁和样品退磁。
采用饱和磁感和频率可预设的慢速减幅退磁方式。
配专业软件,可自动完成磁性能测量。
自动计算磁参量并绘制曲线,支持数据管理。
主机采用模块化设计,方便升级或维修。
技术参数
型号 | TD8160 |
磁场强度Hm | 1A/m~200A/m① |
磁极化强度Jm | 10mT~1.7T② |
磁通密度Bm | 10mT~1.7T |
工作频率F | 40Hz...65Hz(400Hz可选) |
备注①:最大磁场强度值与选用的磁导计有关。②:Jm、Bm指标与材料性能相关 |
典型的测试点 | 最佳不确定度(k=2) | 最佳重复性 | |
损耗Ps | P1.0④ | 3.0% | 1.0% |
P1.3 | 3.0% | 1.0% | |
P1.4 | 3.0% | 1.0% | |
P1.5 | 3.0% | 1.0% | |
磁感Bm | B25⑤ | 1.0% | 0.3% |
B50 | 1.0% | 0.3% | |
B80 | 1.0% | 0.3% | |
备注④:P1.0指磁通B为1.0T时的比总损耗值,以此类推。 ⑤:B25指磁场H为25A/m时的磁通密度值,以此类推。 |