AQ7420 高分辨率反射计
AQ7420 可准确检测光连接器和模块内反射的数量和位置。它揭示了标准损耗测量可能会遗漏的微裂纹,有助于避免不可预测和潜在有害的故障,这在受运动、振动和热循环影响的苛刻环境中尤为有价值。当与可选的传感器头单元配对时,它还可以同时测量插入损耗,使 AQ7420 成为检测光连接器和模块的理想多用途仪器。
杂散降噪
使用一些传统的反射计时,杂散噪声可能会错误地出现在没有实际反射的区域。波形分析通常要求用户具备此类现象的专业知识。AQ7420 大大降低了杂散噪声并简化了分析。
测量距离:100 毫米(约 4 英寸)
空间分辨率:40 μm
杂散噪声:−100 dB 可避免假(重影)效果
同时测量多重反射和插入损耗
传统上,由于垂直轴的测量精度差(背向反射),反射计不足以检测反射衰减。AQ7420 的测量不确定度为 ±3dB,使用光学传感器头,可以同时测量连接器连接损耗,不确定度为 ±0.02 dB。
光连接器的微裂纹分析
AQ7420 可同时测量光连接器的断裂、裂纹、损耗和反射。
光连接器微裂纹的测量示例(高灵敏度范围)