鼎阳科技 高分辨率示波器 SDS5000L系列

产品综述

SDS5000L系列高分辨率紧凑型数字示波器，具有最高8通道、12-bit垂直分辨率、优秀的本底噪声性能和垂直测量精度，能满足更多通道、更高精度的测量需求。SDS5000L的最大带宽1 GHz，采样率最高5 GSa/s，单台提供8个模拟通道，可通过多台同步的方式支持最多512个模拟通道；存储深度可达2.5 Gpts/通道。SDS5000L采用SPO 技术，波形捕获率高达650 000帧/秒，具有256级辉度等级及色温显示；创新的数字触发系统，触发灵敏度高，触发抖动小；支持丰富的智能触发、串行总线触发和解码；具备丰富的测量和数学运算功能，支持历史（History）模式、分段采集（Sequence）、模板测试、搜索、导航、波形直方图、三相电源分析、双脉冲测试等高级分析模式。SDS5000L提供HDMI和USB接口，通过外接显示器和鼠标实现人机交互，也可以用网口连接上位机，通过WebServer、SigScopeLab上位机软件或二次开发上位机软件实现对仪器的操控，使用灵活，可适用多种应用场景。

特性与优点

• 模拟通道带宽：最高1 GHz；实时采样率高达5 GSa/s
  

• 垂直分辨率：12-bit
  

• 低本底噪声，在全带宽下低至140 μVrms

• 高直流增益精度：±0.5% FS典型值

• SPO 技术

        波形捕获率最高达650 000 帧/秒 (Sequence 模式)，160 000 帧/秒 (正常模式)
        支持256 级波形辉度及色温显示

        存储深度最高达2.5 Gpts/通道

        数字触发

• 智能触发：边沿、斜率、脉宽、窗口、欠幅、间隔、超时、码型、第N边沿、建立/保持和视频触发 (支持HDTV) 等
  

• 串行总线触发和解码，支持的协议包括标配的 I2C、SPI、UART、CAN、LIN和选配的CAN FD、I2S、FlexRay、MIL-STD-1553B、SENT、Manchester、ARINC429等
  

• 分段采集 (Sequence) 模式，最大可以将存储深度等分为170 000 段，根据用户设置的触发条件，以非常小的死区时间分段捕获符合条件的事件。在Sequence模式下的波形捕获率最高达650 000 帧/秒
  

• 历史模式 (History)，最大可记录170 000 帧波形
  

• 数十种自动测量功能，支持测量统计、Gating 测量、Math 测量、History 测量。支持对测量参数的直方图、轨迹图和趋势图统计
  

• 路独立的波形运算，支持8M点FFT和20多种常用时域运算；支持自定义表达式实现复杂的嵌套运算
  

• 多种高级数据分析和处理功能：搜索和导航、高速模板测试、波形直方图、波特图、电源分析和三相电分析 (选件)、计数器等
  

• 16 路数字通道 (探头选配)
  

• 外置50 MHz任意波形发生器 (选件)
  

• 12.1 英寸电容式触摸显示屏，分辨率1280*800
  

• 丰富的接口：2个USB Host 3.0、1个USB Host 2.0、USB Device 3.0 (USBTMC)、1000M LAN (VXI-11/Telnet/Socket/LXI)、Pass/Fail、Trigger Out、HDMI视频接口输出、10 MHz In、10 MHz Out等
  

• 支持外接鼠标和键盘操作；内建的WebServer 支持通过网页控制仪器
  

• 支持丰富的SCPI 远程控制命令
  

• 多国语言显示及嵌入式在线帮助
  

产品型号

产品优势

多路信号时序分析，一次完成电源轨测量

现代电子系统中包含不同的芯片、模块等，不同电路模块的信号在初始化和工作时可能相互影响，通过上电时序测试，可确保各模块信号在正确的时间出现，避免信号冲突、干扰，保证系统正常运行。如在通信系统中，收发模块的上电时序不当，可能造成数据传输错误。随着技术的发展，电路的复杂度不断提高，对上电时序测试也提出了新的挑战。SDS5000X HD可一次捕获所有相关信号的上电过程，节省测量时间，提高工作效率，减少因多次测量引入的误差，对有 8 个以上电源轨的复杂电路，可一次完成测量。

三相电分析

使用八通道示波器进行三相电分析，可以同时连接三相电的各相，对三相电压、电流信号进行同步测量，能实时准确获取三相电各相的波形和参数，直接观察和比较三相电信号的相位关系，确保三相电的相位平衡。借助快速傅里叶变换（FFT）功能，多通道示波器可对三相电压、电流信号进行谐波分析。选配三相电分析，可以测试三相电机的向量图，电能质量，进行效率分析等。

完整的宽禁带半导体解决方案

鼎阳科技最新八通道示波器和光隔离探头，补全了宽禁带半导体测试的最后一块拼图。SDS5000X HD的上升时间达到了ps级别，可以捕捉到碳化硅（SiC）、氮化镓（GaN）的快速变化的波形，分析开关过程中电压，电流的瞬态变化和开关特性。通过观察信号的形状、过冲、振铃等情况，分析信号的完整性，优化电路设计。

型号和主要参数