icon icon icon
banner图片
Image
3D激光扫描显微镜 LEXT™ OLS5100

奥林巴斯 3D激光扫描显微镜 LEXT™ OLS5100

品牌名称:奥林巴斯

产品型号:LEXT™ OLS5100

产品规格
产品介绍
适用于故障分析和材料工程研究的OLS5100激光显微镜将卓越的测量精度和光学性能与智能工具相结合,让显微镜更加方便使用。通过快速高效精确测量亚微米级形状和表面粗糙度的可靠数据简化您的工作流程。
资料下载
渠道商
产品详情

LEXT™ OLS5100 3D激光扫描显微镜 概述
适用于故障分析和材料工程研究的OLS5100激光显微镜将卓越的测量精度和光学性能与智能工具相结合,让显微镜更加方便使用。通过快速高效精确测量亚微米级形状和表面粗糙度的可靠数据简化您的工作流程。

LEXT™ OLS5100 3D激光扫描显微镜 技术参数

型号

OLS5100-SAF

OLS5100-SMF

OLS5100-LAF

OLS5100-EAF

总倍率

54x–17,280x

视场

16   µm–5,120 µm

测量原理

光学系统

反射式共焦激光扫描激光显微镜
  反射式共焦激光扫描激光-DIC显微镜
  颜色
  彩色DIC


光接收元件

激光:光电倍增管(2通道)
  彩色:CMOS彩色相机

高度测量

显示分辨率

0.5   nm


动态范围

16位


重复性σn -1*1 *2 *5

5X:0.45 μm, 10X:0.1 μm, 20X:0.03 μm, 50X:0.012 μm, 100X:0.012 μm


准确度*1 *3 *5

0.15   + L / 100μm(L:测量长度[μm])


拼接图像准确度*1 *3 *5

10X:5.0+L/100 μm, 20X 或更高倍率1.0+L/100 μm (L: 拼接长度[μm])


测量噪声(Sq噪声)*1 *4 *5

1   nm(典型值)

宽度测量

显示分辨率

1   nm


重复性3σn-1  *1 *2 *5

5X:0.4 μm, 10X:0.2 μm, 20X:0.05 μm, 50X:0.04 μm, 100X:0.02 μm


准确度*1 *3 *5

测量值+/- 1.5%


拼接图像准确度*1 *3 *5

10X:24+0.5L μm, 20X:15+0.5L μm, 50X:9+0.5L μm, 100X:7+0.5L μm (L:拼接长度[mm])

单次测量时最大测量点数量

4096   × 4096像素

最大测量点数量

3600万像素

XY载物台配置

长度测量模块

不适用

不适用


工作范围

100   × 100 mm (3.9 × 3.9 in.) 电动

100   × 100 mm (3.9 × 3.9 in.) 手动

300   × 300 mm (11.8 × 11.8 in.) 电动

100   × 100 mm (3.9 × 3.9 in.) 电动

最大样品高度

100   × 100 mm (3.9 × 3.9 in.)

30   mm (1.2 in.)

30   mm (1.2 in.)

210   mm (8.3 in.)

激光光源

波长

405   nm


最大输出

0.95   mW


激光等级

2级(IEC60825-1:2007,IEC60825-1:2014)

彩色光源

白光LED

电气功率

240   W

240   W

278   W

240   W

质量

显微镜主体

约   31 kg

约   32 kg

约   50 kg

约   43 kg


控制箱

约   12 kg

*1 在ISO554(1976)、JIS Z-8703(1983)规定的恒温恒湿环境下使用时提供保证(温度:20?C±1?C,湿度:50%±10%),如ISO554(1976)、JIS Z-8703(1983)所规定。
*2 在使用MPLAPON LEXT系列物镜测量时倍率20x或更高。
*3 在使用专用LEXT物镜测量时。
*4使用MPLAPON100XLEXT物镜测量时的典型值。
*5 基于奥林巴斯认证系统下的保证。

** Window 10的OS许可已通过奥林巴斯提供的显微镜控制器认证。因此接受Microsoft许可条款即表示您同意这些条款。有关Microsoft的许可条款,请参阅以下内容。


相关产品
资料申请
在线留言