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USPM-RU-W

奥林巴斯 近红外显微分光测定仪 USPM-RU-W

品牌名称:奥林巴斯

产品型号:USPM-RU-W

产品规格
产品介绍
奥林巴斯的近红外显微分光测定仪USPM-RU-W可以高速&高精细地进行可视光区域至近红外区域的大范围波长的分光测定。由于其可以很容易地测定通常的分光光度计所不能测定的细微区域、曲面的反射率,因此十分适用于光学元件与微小的电子部件等产品。
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产品详情

USPM-RU-W 近红外显微分光测定仪 概述
奥林巴斯的近红外显微分光测定仪USPM-RU-W可以高速&高精细地进行可视光区域至近红外区域的大范围波长的分光测定。由于其可以很容易地测定通常的分光光度计所不能测定的细微区域、曲面的反射率,因此十分适用于光学元件与微小的电子部件等产品。

USPM-RU-W 近红外显微分光测定仪 技术参数


反射率测定

透过率测定*1

45度反射测定*1

名称

近红外显微分光测定仪

近红外显微分光测定仪用
  透过测定选配件

近红外显微分光测定仪用
  45度反射测定选配件

型号

USPM-RU-W

测定波长

380~1050nm

测定方法

对参照样品的比较测定

对100%基准的透过率测定

对参照样品的比较测定

测定范围

参照下列对物镜的规格

约ø2.0mm

测定
  再现性(3σ)*2

反射率测定

使用10×、20×物镜时

±0.02[%]以下(430-1010nm)、
  ±0.2[%]以下(上述以外)

±1.25[%]以下(430-1010nm)、
  ±5.0[%]以下(左侧记载除外)

使用40×物镜时

±0.05[%]以下(430-950nm)、
  ±0.5[%]以下(上述以外)


厚膜测定

±1%

-

波长显示分解能

1nm

照明附件

专用卤素灯光源  JC12V 55W(平均寿命700h)

位移受台

承载面尺寸:200(W)×200(D)mm  
  承重:3 kg
  工作范围:(XY) ±40mm, (Z)125mm

倾斜受台

承载面尺寸: 140(W)×140(D)mm
  承重: 1 kg
  工作范围:(XT) ±1°, (YT) ±1°

装置质量

主体:约26 kg(PC除外)

主体:约31 kg(PC除外)*3

控制电源箱:约6.7kg

装置尺寸

主体部位:360(W)×446(D)×606(H)mm

主体部位:360(W)×631(D)×606(H)mm

控制电源箱:250(W)×270(D)×125(H)mm

电源规格

输入规格:100-240V (110VA) 50/60Hz

使用环境

水平无振动的场所
  温度:15~30℃
  湿度:15~60%RH(无结露)

*1 选件组件  *2 本社测定条件下的测定  *3 装配透过率测定套件与45度反射测定套件的总重量为33kg。

对物镜

型号

USPM-OBL10X

USPM-OBL20X

USPM-OBL40X

倍率

10x

20x

40x

NA

0.12

0.24

0.24

测定范围*4

70μm

34μm

17μm

工作距离

14.3mm

4.2mm

2.2mm

样品的曲率半径

±5mm~

±1mm~

±1mm~

 *4 点径
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