测试包装速度
600ppm~1,200ppm (1870D)
80ppm~250ppm (1870D-12)
选配功能:
层间短路测试
绝缘电阻测试
重迭电流测试
圆振盘入料设计,稳定快速供料
导引盘设计,无掉料疑虑
四线式量测设计的测试座
入料异常自动排料机构
各测试站皆有独立的不良品收集盒
另提供测试不包装功能,良品只被收集在散装收集盒内
专用数据搜集软件,可实时监控生产质量
预留喷码及光学检测机构位置
切换式中/英/日文操作接口
设备快速、稳定、安全
Chroma 1870D系列(1870D/1870D-12)是一款为芯片型电感所设计的自动化测试生产设备,包含芯片电感所需的各项测试功能,并具备制程终端的卷带包装自动化机械,达到生产线的制造自动化。
Chroma 1870D/1870D-12的标准测试功能包含电感值(Ls)/质量因素(Q)量测、绕线电阻(RDC)量测、极性(Polarity)测试,并可选配层间短路测试(IWT)、绝缘电阻(IR)测试及重迭电流(BIAS Current)测试,包含芯片电感的标准规格及质量相关的测试项目。
为因应现今电子产品,微型电感被大量使用,相对的电感需大量生产,Chroma 1870D/1870D-12最大生产效率为1,200ppm,可满足庞大的需求数量。除测试外,1870D/1870D-12也具备自动包装机械,可将产品自动封装于包装卷带,以符合SMD生产所需样式。
Chroma 1870D/1870D-12的供料模块采用圆盘振动送料,圆盘振动送料可高速运送薄型化产品。圆盘振动送料透过轨道设计、光纤侦测及气孔吹气决定入料方向,相较于以往的直线往复式的机械送料,较快速也省空间。
传统往复式机械或炮塔式机械架构在测试移载时,是以吸嘴设计吸附产品进行移载,往往在移载时受移动惯性影响发生产品掉落,或因定位不准确而无法测试。Chroma 1870D/1870D-12的测试区以导引盘架构设计,整体为封闭式的架构, 在进行高速移载时不会有产品遗漏的疑虑,相较于传统机械架构更快速及稳定。
致茂电子专精于电子测试技术,对于自动测试设备的测试治具也有专门的设计。Chroma 1870D /1870D-12测试站所使用的测试座为四线式量测设计,比一般自动测试设备更精准稳定。测试座与产品的连接端采片式设计,相较于探针于使用上容易接触且寿命长,于量测上片式设计也较探针稳定且容易维护。
Chroma 1870D/1870D-12具备专用软件,可于生产过程中实时监控测试状态,将每一个产品的测试数据搜集储存。实时监控功能利于生产单位于生产时降低生产风险,减少不必要生产工时。数据搜集功能有利于研发及品保单位做产品分析或 质量控管,透过软件协助提升生产质量。
研发及品保单位针对产品会进行所有特性检测,分别为基本电气特性及质量相关测试,测试站别则包含极性测试、层间短路测试 (或选择重迭电流测试)、绕线电阻测试及电感/质量因素测试,进而搜集与分析测试数据以评估质量,或进行产品打样试产。Chroma 1870D/1870D-12系统提供弹性化选择,依不同单位或需求选择搭配测试站别。
比照研发端,将全部电气特性测试纳入生产线,包含极性测试、层间短路测试(或选择重迭电流测试)、绕线电阻测试及电感/质量因素测试。
针对产线仅测试标称值来达到快速生产的需求,测试项目则调整为绕线电阻测试及电感/质量因素测试。
部分功率电感需在顶部做标印,以判别电感极性方向或样式类别。Chroma 1870D/1870D-12可配合将客户现有的标印系统及光学检查系统安装整合于系统内。