台湾Chroma 电感层间短路自动测试系统 Model 1871

• 适用尺寸3.2mm x 2.5mm ~1.6mm x 0.8mm

• 测试包装速度600ppm~1500ppm

• 层间短路判断功能：

• 面积比 (Area)

• 放电二次微分侦测 (Laplacian)

• 波峰降比 (ΔPeak Ratio)

• 共振波面积比 (ΔResonant Area)

• 具接触检查功能以延长治具使用期限

• 可选择搭配5组或2组测试站

• 导引盘设计，无掉料疑虑

• 类四线式量测设计的测试座

• 具有各种不良品独立收集盒

• 专用数据收集软件，可实时监控生产质量

• 切换式中/英/日文操作接口

• 设备快速、稳定、安全

Chroma 1871是专门为芯片型电感所设计的自动化测试生产设备，特别针对层间短路测试而设计，满足客户端大量生产需求。

1871的测试功能为层间短路测试(IWT)，是把关芯片电感质量的测试系统。此系统也承袭Chroma 19301A 绕线组件脉冲测试器所有的判断功能，包含波形面积比(Area)、放电二次微分侦测(Laplacian)及新的测试判断功能波峰降比(Δ Peak Ratio)、共振波面积比(Δ Resonant Area)。

为因应现今电子产品，薄型化的电感器被大量使用，相对的也需大量生产，Chroma 1871最大生产效率为每分钟1,500个，可满足庞大产能需求。利用一次5组层间短路测试站同时测试来达到快速量产。亦可选择仅搭配2组层间短路测试站给予不需量产的研发或品保等单位使用，以符合最佳的成本效益。

1871的供料模块采用圆盘振动送料，可高速运送薄型化产品。圆盘振动送料可透过轨道设计、光纤侦测及气孔吹气来控制入料时产品的方向，相较于以往直线往复式机械送料更快速也省空间。

传统往复式或炮塔式机械架构在测试移载时，是以吸嘴吸附并移载产品，往往在移载时受移动惯性影响发生产品掉落或定位不准确无法量测。1871的测试区为封闭式导引盘架构设计，高速移载时不会有产品掉落的疑虑，相较于传统机械架构则更快速、稳定。

致茂电子专注于精密电子量测技术，自动测试设备的治具亦可量身订做。1871使用的测试座为类四线式量测设计，测试座与产品的连接端采片式设计，比一般测试设备使用的探针更容易接触且寿命长；量测时，片式设计也比探针稳定、容易维护。

Chroma 1871具备专用软件，可于生产过程中实时监控测试状态，收集储存每单一产品的测试数据。实时监控功能有利于降低生产风险，减少不必要的工时；数据收集功能则可协助研发及品保单位做产品分析或质量控管，透过软件接口的数据分析可提升质量，进而增加利润。

研发、品保批量验证可选择仅搭配2组层间短路测试站

研发及品保单位会进行产品特性检测，以层间短路测试分析产品不良状态。因此检测同时也需要收集测试数据，分析产品的数据及质量。

产线高速测试生产搭配5组层间短路测试站

生产线可选择搭配5组层间短路测试站，一次5站同时测试可缩短测试时间，以达到高速量产，测试同时亦可监控测试状态并收集数据。